[发明专利]移位寄存器有效
申请号: | 200880116106.0 | 申请日: | 2008-08-26 |
公开(公告)号: | CN101861625A | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 横山真;古田成;村上祐一郎;佐佐木宁 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G11C19/00 | 分类号: | G11C19/00;G09G3/20;G09G3/36;G11C19/28 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 日*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 移位寄存器 | ||
1.一种移位寄存器,将包括相同导电型的晶体管的多个单元电路级联连接,根据多相的时钟信号进行动作,其特征在于:
具备:
检测电路,其在检测出上述多个单元电路为激活时,输出激活的检测信号;和
复原执行电路,其根据上述激活的检测信号使上述多个单元电路成非激活。
2.根据权利要求1所述的移位寄存器,其特征在于:
上述单元电路具备:
输出控制晶体管,其一方导通端子被施加上述多相的时钟信号中的任一个,另一方导通端子连接到输出端子;
预充电电路,其在输入信号是导通电平的期间,对上述输出控制晶体管的控制端子施加导通电压;
放电电路,其对上述输出控制晶体管的上述控制端子施加截止电压;以及
输出复位晶体管,其一方导通端子被施加截止电压,另一方导通端子连接到上述输出端子,
上述复原执行电路激活上述放电电路,由此对上述输出控制晶体管的上述控制端子施加截止电压。
3.根据权利要求2所述的移位寄存器,其特征在于:
上述复原执行电路对上述输出复位晶体管的控制端子输出导通电压。
4.根据权利要求2所述的移位寄存器,其特征在于:
上述单元电路包括上述检测电路和上述复原执行电路,
上述检测电路在检测出从前方的上述单元电路的输出信号和后方的上述单元电路的输出信号中分别各选择一个的输出信号都为激活时,输出上述激活的检测信号。
5.根据权利要求2所述的移位寄存器,其特征在于:
上述单元电路包括上述复原执行电路,
上述检测电路在检测出从连接到同一时钟信号线的第偶数级单元电路或者第奇数级单元电路中的任一方中任意选择的2个以上的单元电路的所有输出信号为激活时,对上述多个单元电路施加上述激活的检测信号。
6.根据权利要求5所述的移位寄存器,其特征在于:
上述检测电路还包括初始化电路,所述初始化电路在从外部施加初始化信号时被激活,
上述复原执行电路在上述初始化电路为激活时,使上述放电电路激活。
7.根据权利要求6所述的移位寄存器,其特征在于:
上述复原执行电路在上述初始化电路为激活时,对上述输出复位晶体管的上述控制端子施加导通电压。
8.根据权利要求2所述的移位寄存器,其特征在于:
上述单元电路包括上述复原执行电路,
上述检测电路根据上述多个单元电路的所有输出,检测已激活的单元电路的个数,输出与上述个数相应的激活的检测信号。
9.根据权利要求8所述的移位寄存器,其特征在于:
上述检测电路具备:
个数检测电路,其输出与上述多个单元电路中已激活的单元电路的个数相应的个数检测信号;和
信号输出电路,其在来自上述个数检测电路的上述个数检测信号超过规定的范围时,对上述检测电路输出激活的检测信号,
上述个数检测电路包括:
电阻元件;和
多个晶体管,上述多个单元电路的输出端子连接到所述多个晶体管各自的栅极端子,并且所述多个晶体管是并联连接的,其一方导通端子连接到上述电阻元件的一端,
对上述信号输出电路输出上述电阻元件与上述多个晶体管的一方导通端子的连接点的电位。
10.一种移位寄存器,将包括相同导电型的晶体管的多个单元电路级联连接,根据多相的时钟信号进行动作,其特征在于:
具备误动作复原电路,其在上述移位寄存器进行误动作时使上述移位寄存器复原到通常动作,
上述单元电路具备:
输出控制晶体管,其一方导通端子被施加上述多相的时钟信号中的任一个,另一方导通端子连接到输出端子;
预充电电路,其在输入信号是导通电平的期间,对上述输出控制晶体管的控制端子施加导通电压;
放电电路,其对上述输出控制晶体管的上述控制端子施加截止电压;以及
输出复位晶体管,其一方导通端子被施加截止电压,另一方导通端子连接到上述输出端子,
上述误动作复原电路具备:
检测电路,其在检测出上述多个单元电路为激活时,输出激活的检测信号;和
复原执行电路,其根据上述激活的检测信号使上述多个单元电路为非激活。
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