[发明专利]用于对光学混浊介质的内部成像的方法和设备无效

专利信息
申请号: 200880114925.1 申请日: 2008-11-03
公开(公告)号: CN101848671A 公开(公告)日: 2010-09-29
发明(设计)人: L·P·巴克;M·C·范比克;M·B·范德马克 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;G01N21/64
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘鹏;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 混浊 介质 内部 成像 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于对混浊介质(40)的内部成像的方法,包括以下步骤:

-将来自光源(35)的照射光耦合(5)到混浊介质(40)内;

-在相对于混浊介质(40)的至少一个收集位置(65)处收集(10)从混浊介质(40)发出的检测光,所述检测光作为将照射光耦合(5)到混浊介质(40)内的结果而从混浊介质(40)发出;

-同时测量收集的检测光的至少第一特性和第二特性,所述收集的检测光在单个收集位置(65)处被收集;

-获取测量的特性的第一线性组合与测量的特性的第二线性组合的比值(25)。

2.如权利要求1所述的方法,其中:

-所述检测光包含以相互基本上不同的波长范围为特征的至少第一光成分和第二光成分;

-所述第一特性为第一光成分的特性;

-该方法包括以下附加步骤:在测量步骤之前使用第一成分分离器从收集的收集光中使得第一光成分的至少一部分单独可用。

3.一种用于对混浊介质(40)的内部成像的方法,包括以下步骤:

-将来自光源(35)的照射光耦合(5)到混浊介质(40)内;

-在相对于混浊介质(40)的至少一个收集位置(65)处收集(10)从混浊介质(40)发出的检测光,所述检测光作为将照射光耦合(5)到混浊介质(40)内的结果而从混浊介质(40)发出并且所述检测光包含第一光成分和第二光成分;

-使用成分分离器(80)从单个收集位置(65)处收集的检测光中使得第一光成分和第二光成分单独可用(15);

-使用检测单元(110)同时检测(20)第一光成分和第二光成分的强度;

-获取第一光成分和第二光成分的检测的强度的第一线性组合与第一光成分和第二光成分的检测的强度的第二线性组合的比值(25)。

4.如权利要求3所述的方法,其中第一光成分包括具有被选择用于激发混浊介质(40)中包含的荧光剂的波长的激发光并且其中第二光成分包括作为利用激发光激发荧光剂的结果而由荧光剂产生的荧光。

5.一种用于对混浊介质(40)的内部成像的设备(30,125),包括:

-光源(35),其用于产生要耦合到混浊介质(40)内的光;

-收集位置(65),其用于收集作为将来自光源(35)的光耦合(5)到混浊介质(40)内的结果而从混浊介质(40)发出的检测光;

-测量单元(110),其用于同时测量收集的检测光的至少第一特性和第二特性;

-处理单元(115),其用于获取测量的特性的第一线性组合与检测的特性的第二线性组合的比值。

6.一种用于对混浊介质(40)的内部成像的设备(30,125),包括:

-光源(35),其用于产生要耦合到混浊介质(40)内的光;

-收集位置,其用于收集作为将来自光源(35)的光耦合(5)到混浊介质(40)内的结果而从混浊介质(40)发出的检测光;

-成分分离器(80),其用于使得第一光成分和第二光成分单独可用(15),所述第一光成分和第二光成分初始时包含在相对于混浊介质(40)的单个收集位置(65)处收集的检测光中;

-检测单元(110),其用于检测(20)第一光成分和第二光成分的强度;

-处理单元(115),其用于获取第一光成分和第二光成分的检测的强度的第一线性组合与第一光成分和第二光成分的检测的强度的第二线性组合的比值(25)。

7.如权利要求6所述的设备(30,125),其中该设备(30,125)为用于对混浊介质(40)的内部成像的医疗图像采集设备(125)。

8.如权利要求6-7所述的设备(30,125),其中第一光成分和第二光成分以相互不同的波长范围为特征,并且其中成分分离器(80)被设置用于依照波长使得第一光成分和第二光成分单独可用。

9.如权利要求6-8所述的设备(30,125),其中成分分离器(80)包括一定组中包括的元件中的至少一个,该组包括:二向色镜、透射光栅和棱镜。

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