[发明专利]晶体振荡器的温度补偿

权利要求书

1.一种产生晶体振荡器的频率估计的方法，所述方法包括：

接收所测量的振荡器温度；

接收所测量的晶体温度；

基于所述所测量的晶体温度产生第一频率分量；

产生第二频率分量，所述产生所述第二频率分量包括计算所述所测量的振荡器温度与第二温度项之间的差，所述产生所述第二频率分量进一步包括计算所述差的函数；及

产生所述频率估计，所述产生所述频率估计包括将所述第一与第二频率分量相加。

2.根据权利要求1所述的方法，所述计算所述差的函数包括通过标量按比例缩放所述差。

3.根据权利要求2所述的方法，所述第二温度项是所述所测量的晶体温度。

4.根据权利要求3所述的方法，所述产生所述第一频率分量包括将所述所测量的晶体温度输入到第一F-T函数。

5.根据权利要求4所述的方法，所述第一F-T函数包括所述振荡器温度的多项式展开，所述多项式展开的系数存储于存储器中。

6.根据权利要求3所述的方法，其进一步包括：

估计所述第一频率分量的斜率；及

估计所述第二频率分量的斜率；

所述基于所述第一及第二频率分量产生所述频率估计包括对所述第一及第二频率分量的所述所估计斜率求和，且累加所述所估计斜率的所述和。

7.根据权利要求6所述的方法，其进一步包括对所述所估计斜率的所述所累加的和与初始频率求和，所述初始频率是所述第二频率估计、或所述第一频率分量或第一频率估计，所述第一频率估计是所述第一与第二频率分量的和。

8.根据权利要求7所述的方法，其进一步包括在所述第二频率估计为可用时在所述第一频率分量上选择所述第二频率估计。

9.根据权利要求3所述的方法，所述基于所述第一及第二频率分量产生所述频率估计包括：

将所述第一与第二频率分量相加以产生第一频率估计；

计算所述第一频率估计与第二频率估计之间的差；

对所述第一与第二频率估计之间的所述所计算差进行滤波；及

对所述经滤波的所计算差与所述第一频率估计求和以产生经调整的第一频率估计。

10.根据权利要求9所述的方法，所述经调整的第一频率估计是所述晶体振荡器的所述频率估计。

11.根据权利要求10所述的方法，所述第二频率估计是自动频率控制估计。

12.根据权利要求3所述的方法，其进一步包括：

估计所述第一频率分量的所述斜率；及

估计所述第二频率分量的所述斜率；所述基于所述第一及第二频率分量产生所述频率估计包括：

对所述第一及第二频率分量的所述所估计斜率求和以产生第一频率斜率估计；

累加所述第一频率斜率估计；

计算所述所累加的第一频率斜率估计与第二频率估计之间的差；

对所述所累加的第一频率斜率估计与所述第二频率估计之间的所述所计算差进行滤波；

估计所述经滤波的所计算差的斜率；

对所述经滤波的所计算差的所述所估计斜率与所述第一频率斜率估计求和；及

累加所述经滤波的所计算差的所述所估计斜率与所述第一频率斜率估计的和。

13.根据权利要求12所述的方法，其进一步包括：

对所述所累加的和与初始频率求和，所述初始频率是所述第二频率估计、或所述第一频率分量或第一频率估计，所述第一频率估计是所述第一与第二频率分量的所述和。

14.根据权利要求2所述的方法，所述第二温度项是固定参考温度。

15.根据权利要求14所述的方法，所述产生第一频率分量包括将所述所测量的晶体温度输入到第二F-T函数。

16.根据权利要求15所述的方法，其进一步包括：

估计所述第一频率分量的所述斜率；及

估计所述第二频率分量的所述斜率；

所述基于所述第一及第二频率分量产生所述频率估计包括对所述第一及第二频率分量的所述所估计斜率求和，并累加所述所估计斜率的所述和。