[发明专利]跟踪光束移动的方法和系统有效

专利信息
申请号: 200880112448.5 申请日: 2008-10-15
公开(公告)号: CN101828138A 公开(公告)日: 2010-09-08
发明(设计)人: R·G·博索雷;W·童;A·M·布拉托科夫斯基 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G02B6/38 分类号: G02B6/38
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 李玲
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 跟踪 光束 移动 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种光互连(100,200,300),包括:

具有多个光源的光发射器(115,130,210,230,310,330);

光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405),配置成接收从所述光源发出的光束(135,140,410,510);以及

与所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)相连通的光束跟踪模块(240,315,340);

其中,所述光束跟踪模块(240,315,340)被配置成通过从互相关数据中外推出极值(825)来计算至少一个光束(135,140,410,510)的位移,所述互相关数据是在来自所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)的样本读数的至少一部分与来自所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)的参考读数的多个移动的版本的至少一部分之间获得的。

2.如权利要求1所述的光互连(100,200,300),其特征在于,

所述光发射器(115,130,210,230,310,330)被装在第一电路板(105,205,305)上,所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)被装在第二电路板(110,225,325)上。

3.如权利要求1所述的光互连(100,200,300),其特征在于,

所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)的特定光检测元件(415)被指定为接收来自所述光源中的每一个光源的各个光束(135,140,410,510),以及

被指定为接收来自特定光源的光束(135,140,410,510)的光检测元件(415)是响应于所述光束跟踪模块(240,315,340)所计算的位移而变化的。

4.一种用于空间地跟踪光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)中的光束移动的方法,所述方法包括:

从所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)中获得所述光束(135,140,410,510)的参考读数;

从所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)中获得样本读数;

获得在所述样本读数的至少一部分与所述参考读数的多个移动的版本的至少一部分之间的互相关数据;以及

通过从所述互相关数据中外推出极值(825),计算所述光束(135,140,410,510)的位移。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,

所述方法还包括产生所述互相关数据的高斯模型。

6.如权利要求4所述的方法,还包括:

从所述样本读数中创建新的参考读数。

7.如权利要求4所述的方法,还包括:

从所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)中的所述光束(135,140,410,510)的测量结果中解调所述光束(135,140,410,510)上所携带的数据。

8.一种用于补偿光束移动的方法,所述方法包括:

使光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)中的某些光检测元件(415)与来自发射器(115,130,210,230,310,330)的多个光束(135,140,410,510)中的每一个相关联;

获得在来自阵列(120,125,220,235,320,335,405)的样本读数的至少一部分与来自阵列(120,125,220,235,320,335,405)的参考读数的至少一部分的多个移动的版本之间的互相关数据;

通过从所述互相关数据中外推出极值(825),计算所述光束(135,140,410,510)的位移;以及

调节在所述光检测元件(415)和各个光束(135,140,410,510)之间的相关联性以补偿所述位移。

9.如权利要求8所述的方法,还包括:

从所述光检测阵列(120,125,220,235,320,335,405)中的光束(135,140,410,510)的读数中,解调所述光束(135,140,410,510)上所携带的数据。

10.如权利要求8所述的方法,还包括:

重复如下步骤:获得所述互相关数据;以及多次计算所述位移以获得多个位移测量结果。

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