[发明专利]校正显示器中的可见斑失真有效
| 申请号: | 200880110808.8 | 申请日: | 2008-10-14 |
| 公开(公告)号: | CN101821796A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
| 发明(设计)人: | 小泽泰生;斯科特·J·戴利;冯晓帆 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
| 主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36;G02F1/133;G09G3/20 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 赵伟 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 校正 显示器 中的 可见 失真 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于以高效方式减少显示图像中的斑(mura)缺 陷的系统。
背景技术
液晶显示器、场致发光显示器、有机发光设备、等离子显示器和 其他类型的显示器的数目正日益增加。这种显示器的日益增长的需求 已经吸引了大量投资,以建立高质量生产设施来制造高质量显示器。 尽管投资巨大,显示器产业仍主要依赖于由操作人员来执行显示器的 最终测试和检查。这些操作人员对每个显示器进行视觉检查以检查缺 陷,并基于操作人员的感知来接受或拒绝显示器。例如,这种检查包 括基于像素的缺陷和基于区域的缺陷。所得到的检查质量依赖于操作 人员个体,而操作人员可能较为主观并且容易出错。
“斑(mura)”缺陷是对比度类型的缺陷,在应当具有均匀的亮 度时,一个或多个像素比周围像素更亮或更暗。例如,在显示预期的 单调颜色区时,显示器组件中的各种缺陷可能导致不希望的亮度调制。 斑缺陷也可以被称为“Alluk”缺陷,或通常被称为不均匀性缺陷。通 常,这种对比度类型的缺陷可以被识别为“斑点”、“带”、“条”等。 在制造过程中,许多阶段都有可能导致显示器上的斑缺陷。
在显示器上,斑缺陷可能表现为低频、高频、类噪声和/或非常 结构化的图案。通常,一旦显示器制造完成,大多数斑缺陷往往在时 间上是静态的。然而,一些依赖于时间的斑缺陷包括:像素缺陷、以 及各种类型的非均匀老化、发黄和加速老化(burn in)。由于输入信 号(如图像捕捉噪声等)而导致的显示器不均匀性偏差则不被认为是 斑缺陷。
参考图1,由于显示器的各种组件,可能出现输入图像170(在 其色调级上进行了调整160)的斑缺陷。光源(例如荧光管或发光二 极管等)和漫射器150的组合导致亮度不均匀性,如在所产生的显示 图像中与均匀场相对的非常低频的调制。由于沉积在玻璃上的LC(液 晶)材料的不均匀性,LCD面板110本身可能是斑缺陷的来源。这种 斑往往是低频的,具有强不对称性。这就是说,它可能由于单一方向 上的一些较高频分量而出现条纹。斑缺陷的另一来源往往是驱动电路 120、130、140(例如时钟噪声等),驱动电路在显示器上引起类似栅 格的失真。这些都可能影响LC的亮度对电压响应,并导致DAC参考电 压非线性和电压域不均匀性。斑缺陷的另一来源是像素噪声,像素噪 声主要是由于局部化驱动电路(例如薄膜晶体管等)中的变化而引起 的,并且通常显现为固定图案噪声。
发明内容
一种显示器,包括:向所述显示器的多个像素提供的至少一个灰 度级;所述显示器使用所述至少一个灰度级来照亮每个所述像素;所 述显示器对所述像素应用插值校正数据,以针对人类视觉系统通常可 见的特征来减小所述显示器的斑效应,并且不针对人类视觉系统通常 不可见的特征来减小所述显示器的斑效应。
通过结合附图,考虑本发明的以下详细描述,将更容易理解本发 明的上述和其他目的、特征和优点。
附图说明
图1示意了液晶设备和斑的来源。
图2示意了捕捉斑色调级。
图3示意了加载校正斑色调级。
图3示意了输入图像和所加载的斑校正色调级。
图5示意了对比度敏感度函数的视角相关性。
图6示意了用于减弱斑校正以维持较高动态范围的对比度敏感模 型。
图7示意了在使用和不使用对比度敏感模型的情况下的斑校正示 例。
图8示意了未校正的原始亮度。
图9示意了简单直接(brute force)的斑校正。
图10示意了单图像斑校正。
图11示意了单图像斑校正的Δ曲线。
图12示意了简单直接的斑校正的Δ曲线。
图13示意了未校正的原始亮度。
图14示意了多图像斑校正。
图15示意了多图像斑校正的Δ曲线。
图16示意了斑校正的方框图。
图17示意了用于实现斑校正技术的方法。
具体实施方式
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