[发明专利]无铅导电组合物以及用于制造半导体装置的方法:含镁添加剂无效
申请号: | 200880110509.4 | 申请日: | 2008-10-16 |
公开(公告)号: | CN101816045A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
发明(设计)人: | R·J·S·杨;M·罗斯;K·R·米克斯卡;A·F·卡罗尔;K·W·杭;A·G·普林斯 | 申请(专利权)人: | E.I.内穆尔杜邦公司 |
主分类号: | H01B1/16 | 分类号: | H01B1/16;H01B1/22;C03C8/18;C03C17/00;C03C17/06 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 朱黎明 |
地址: | 美国特*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电 组合 以及 用于 制造 半导体 装置 方法 含镁 添加剂 | ||
1.结构,所述结构包括:
(a)厚膜组合物,所述厚膜组合物包含:
a)导电银粉;
b)一种或多种玻璃料,其中所述玻璃料中的至少一种为无铅的;
c)含镁添加剂,其中所述含镁添加剂选自(a)镁,(b)镁的金属氧化物,(c)在焙烧时可生成镁的金属氧化物的任何化合物,以及(d)它们的混合物,分散于
d)有机介质;
(b)一个或多个基板;
其中,在焙烧时,所述有机介质被移除并且所述玻璃料和银粉被烧结。
2.权利要求1的结构,其中所述含镁添加剂为MgO。
3.权利要求2的结构,其中所述含镁添加剂为所述总组合物的0.1至10重量%。
4.权利要求1的结构,其中所述结构为半导体装置。
5.权利要求4的结构,其中所述半导体装置还包括一个或多个绝缘膜。
6.权利要求5的结构,其中,在焙烧时,所述一个或多个绝缘膜被所述厚膜组合物的组分穿透。
7.权利要求4的结构,其中所述半导体装置为太阳能电池。
8.权利要求1的结构,其中所述厚膜组合物还包含选自下列的附加添加剂:(a)金属,其中所述金属选自锌、钆、铈、锆、钛、锰、锡、钌、钴、铁、铜和铬;(b)一种或多种金属的金属氧化物,所述金属选自锌、钆、铈、锆、钛、锰、锡、钌、钴、铁、铜和铬;(c)在焙烧时可生成(b)的金属氧化物的任何化合物;以及(d)它们的混合物。
9.权利要求1的结构,其中所述玻璃料包括:占所述玻璃料的8-25重量%的Bi2O3、B2O3,并且还包括选自下列的一种或多种组分:SiO2、P2O5、GeO2、和V2O5。
10.权利要求5的结构,其中所述绝缘膜包含选自下列的一种或多种组分:氧化钛、氮化硅、SiNx:H、氧化硅、以及氧化硅/氧化钛。
11.制造半导体装置的方法,所述方法包括以下步骤:
(a)提供一个或多个半导体基板、一个或多个绝缘膜、以及厚膜组合物,其中所述厚膜组合物包含:a)导电银,b)一种或多种玻璃料,其中所述玻璃料中的至少一种为无铅的,c)含镁添加剂,分散于d)有机介质中,
(b)将所述绝缘膜施加在所述半导体基板上,
(c)将所述厚膜组合物施加在所述半导体基板上的绝缘膜上,以及
(d)焙烧所述半导体、绝缘膜和厚膜组合物,
其中在焙烧时,所述有机载体被移除,并且所述银和玻璃料被烧结。
12.厚膜组合物,所述厚膜组合物包含:
a)导电银;
b)一种或多种玻璃料,其中所述玻璃料中的至少一种为无铅的;
c)含镁添加剂,所述含镁添加剂选自(a)镁,(b)镁的金属氧化物,(c)在焙烧时可生成镁的金属氧化物的任何化合物,以及(d)它们的混合物,分散于
d)有机介质。
13.权利要求12的组合物,其中所述含镁添加剂为MgO。
14.权利要求13的组合物,其中所述含镁添加剂为总组合物的0.1至10重量%。
15.权利要求12的组合物,其中所述厚膜组合物还包含选自下列的附加添加剂:(a)金属,其中所述金属选自锌、钆、铈、锆、钛、锰、锡、钌、钴、铁、铜和铬;(b)一种或多种金属的金属氧化物,所述金属选自锌、钆、铈、锆、钛、锰、锡、钌、钴、铁、铜和铬;(c)在焙烧时可生成(b)的金属氧化物的任何化合物;以及
(d)它们的混合物。
16.权利要求12的组合物,其中所述玻璃料包括:占所述玻璃料的8-25重量%的Bi2O3、B2O3,并且还包括选自下列的一种或多种组分:SiO2、P2O5、GeO2、和V2O5。
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