[发明专利]光学玻璃和使用该光学玻璃的光学装置

说明书

技术领域

本发明涉及光学玻璃、特别是涉及在用于荧光观察或荧光强度测定的光学系统中使用的光学玻璃以及使用该光学玻璃的光学装置。

背景技术

高折射率低分散性的光学玻璃在良好地校正光学系统的像差方面是有用的。因此将这样的光学玻璃应用于光学仪器的光学系统(透镜)中。作为高折射率低分散性的光学玻璃，例如有日本特开2007-8782号中记载的光学玻璃。日本特开2007-8782号中记载的光学玻璃以SiO₂、B₂O₃和La₂O₃为基本组成。

另外，作为光学仪器例如有荧光显微镜。该荧光显微镜利用试样中所产生的荧光进行试样的观察、测定。近年来，荧光显微镜被用于基于更弱荧光的观察(例如单分子荧光观察)、荧光强度小的试样的荧光强度测定等中。在这样的用途中，要求对比度更高的荧光像的观察、或者要求测定精度的高精度化。

此处，在荧光像(试样像)的观察及荧光量的测定中，已知导致像的对比度变差或导致测定精度变差的一个原因是光学系统的透镜中所使用的玻璃的自发荧光。

该自发荧光指的是由玻璃放出的荧光。该自发荧光是由于在激发试样的激发光穿过透镜时激发光被作为透镜材料的玻璃吸收了一部分而产生的。该自发荧光的波长有时与由试样放出的荧光的波长大致一致。在这种情况下，若自发荧光的荧光强度大于由试样放出的荧光的荧光强度，则例如荧光像的暗部(荧光强度小的部分)的信息会损失。

由上可知，自发荧光会降低试样的荧光像的对比度。因此，在产生自发荧光的观察装置中，难以观察到良好的荧光像。另外，在荧光强度测定中，自发荧光会成为背景噪音。因此，在产生自发荧光的测定装置中，难以对荧光强度小的试样进行更高精度的测定。

发明内容

如上所述，荧光显微镜用于荧光像的观察及荧光量的测定。为了良好地校正像差，也在该荧光显微镜的光学系统的透镜中使用高折射率低分散性的光学玻璃。然而，高折射率低分散性的光学玻璃易于产生自发荧光。因此，使用了高折射率低分散性的光学玻璃的荧光显微镜具有难以进行对比度高的荧光像的观察、难以进行高精度的测定的问题。

本发明是鉴于上述问题而提出的，其目的在于提供与以往相比降低了自发荧光强度的光学玻璃以及使用了该光学玻璃的光学装置。

为了达成上述目的，在本发明的光学玻璃中，相对于100％的以重量基准计至少含有如下成分的基础玻璃组合物，

SiO₂            2～20％

B₂O₃            5～45％

La₂O₃           10～29％

当设波长λ1、波长λ2和波长λ3的关系为λ1＜λ2＜λ3时，含有照射上述波长λ1的光时产生上述波长λ2的光的物质A以及照射上述波长λ1的光时产生上述波长λ3的光的物质B。

另外，在本发明的光学玻璃的其他方式中，相对于100％的以重量基准计含有如下成分的基础玻璃组合物，

SiO₂                     2～20％

B₂O₃                     5～45％

La₂O₃                    10～29％

RO(R＝Zn、Sr、Ba)        0～45％

Ln₂O₃(Ln＝Y、Gd)         0～10％

ZrO₂+Nb₂O₅+TiO₂+Ta₂O₅    1～20％

当设波长λ1、波长λ2和波长λ3的关系为λ1＜λ2＜λ3时，含有照射上述波长λ1的光时产生上述波长λ2的光的物质A以及照射上述波长λ1的光时产生上述波长λ3的光的物质B。

另外，在本发明的光学玻璃的其他方式中，相对于100％的以重量基准计含有如下成分的基础玻璃组合物，

SiO₂                     3～20％