[发明专利]光纤检测系统

权利要求书

1.一种检测设备，其包括：

光学器件部分，其具有个别室，每一室装纳光学组件及电光组件；

歧管，其接纳光纤，所述光纤中的每一者与对应室的所述光学组件及电光组件光学连通；

样本保持器，其保持待测试样本；及

安装装置，其提供于所述样本保持器与所述歧管之间，

其中所述安装装置及所述歧管形成所述样本保持器与所述光学器件部分之间的经密封光纤接口。

2.根据权利要求1所述的检测设备，其中光学组件及电光组件包含样本部分及激发部分。

3.根据权利要求2所述的s检测设备，其中所述激发部分包含光源。

4.根据权利要求3所述的检测设备，其中所述光源是发光二极管。

5.根据权利要求2所述的检测设备，其中所述样本部分包含光检测器。

6.根据权利要求5所述的检测设备，其中所述光检测器是光电二极管。

7.根据权利要求2所述的检测设备，其中所述样本部分及所述激发部分各自含在所述光学器件部分的界定所述个别室的单个腔内。

8.根据权利要求1所述的检测设备，其中所述光纤集成到所述歧管中。

9.根据权利要求1所述的检测设备，其中所述样本保持器包含光学窗口。

10.根据权利要求1所述的检测设备，其进一步包括毗邻所述安装装置提供的散热器。

11.根据权利要求1所述的检测设备，其中所述歧管可拆卸地安装到所述光学器件部分的一端。

12.根据权利要求1所述的检测设备，其中所述歧管密封到所述光学器件部分的一端。

13.根据权利要求10所述的检测设备，其中所述散热器提供于正测试所述样本之处的相对侧上。

14.根据权利要求1所述的s检测设备，其进一步包括所述个别室中的透镜以将光聚焦到所述光纤上或从所述光纤聚焦光。

15.一种用于形成s检测设备的方法，其包括：

将光学组件及电光组件装纳于光学器件部分的个别室中；

将与所述光学组件及电光组件光学连通的光纤的一端接纳于歧管中；

提供保持待测试样本的样本保持器；

将所述光纤的另一端接纳于所述样本保持器与所述歧管之间；及

形成所述样本保持器与所述光学器件部分之间的经密封光纤接口。

16.根据权利要求15所述的用于形成s检测设备的方法，其进一步包括将所述歧管可拆卸地安装到所述光学器件部分的一端。

17.根据权利要求15所述的用于形成检测设备的方法，其进一步包括将所述歧管密封到所述光学器件部分的一端。

18.根据权利要求15所述的用于形成检测设备的方法，其进一步包括将所述光纤集成到所述歧管中。

19.根据权利要求15所述的用于形成检测设备的方法，其进一步包括与所述待测试样本相对地提供散热器。

20.一种s检测系统，其包括：

光学器件部分，其具有个别室，每一室装纳光学组件及电光组件；

歧管，其接纳光纤，所述光纤中的每一者与对应室的所述光学组件及电光组件光学连通；

样本保持器，其保持待测试样本；

安装装置，其提供于所述样本保持器与所述歧管之间；及

印刷电路板，其连接到所述安装装置，

其中所述安装装置及所述歧管形成所述样本保持器与所述光学器件部分之间的经密封光纤接口。