[发明专利]用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法和X射线检查设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方 法以及X射线检查设备。

背景技术

为了检查对象，尤其是行李是否含有可疑物体，公知采用X射线 检查设备，在该设备中待检查的对象被X射线透射。该X射线检查 设备为此具有X射线源和检测器，在该检测器中检测衰减的射线的强 度。通过该强度计算出在屏幕上显示的二维X射线图像的亮度值。在 该X射线图像中可以识别出危险物质。

与用于医疗领域的计算机断层造影不同，用于安全检查或非破坏 性测试的X射线检查设备具有固定的X射线源和检测器。这种X射 线检查设备由此仅在一个方向透射检查对象的每个空间点。因此不能 执行对该检查对象的三维重构，而该重构是确定密度所必要的。在光 路中重叠放置的物质由此无法被简单地识别出来。因此本发明要解决 的技术问题是提供一种方法来改善X射线检查设备中的物质可识别 度。

发明内容

该技术问题通过根据本发明的方法解决。本发明还涉及一种具有 用于执行该方法的装置的X射线检查设备。

在本发明的方法中，首先在不同能量的情况下拍摄待检查对象的 至少两幅吸收X射线图像。在此，能量优选被选择为使得透射通过该 对象的X射线的强度被不同的物理效应减小。优选地，根据已知的双 能量方法，在两个不同的能量的情况下拍摄两幅吸收X射线图像。概 念“X射线图像”在此根据上下文是指所测得的X射线强度或者由该强 度计算出的要显示在屏幕上的图像。

所测得的X射线强度一般遵循以下吸收等式：

I(E)=∫EI0(E)·e-∫Sμ(E,r(s))dsdE---(1)]]>

在此，I₀表示X射线的与能量有关的强度，该强度是在X射线源 和检测器之间没有物质时会在检测器上出现的强度，μ表示与所述对 象内的位置坐标r(s)有关的吸收系数。S描述了X射线穿过该对象的 路径。由于X射线检查设备通常不使用单能的X射线，因此在等式 (1)中对X射线的能量谱进行积分。

在另一个方法步骤中，通过多个层来对所述对象进行数学建模， 其中假定每一层具有一种具体的物质。在此，层的数量小于或等于X 射线图像的数量，而且对于至少一层假定具有一种将在检查时识别的 物质。由于这些物质假定是均匀的，因此一层内的μ是恒定的，而且 不需要在路径S上的积分。由此给出以下等式：