[发明专利]光学测速方法和光学测速传感器

权利要求书

1.一种用于对物体表面(O)相对于传感器(1)的速度进行测量的方法，其中

所述传感器(1)具有彼此在空间上分隔布置的多个光敏元件(2)，每隔一段时间对其进行读取，

其特征在于，所述测量根据空间频率滤波器方法(SFV)以及根据图像处理方法(BVV)来进行，针对确定的频率值和/或针对至少一个质量特征对所述空间频率滤波器方法(SFV)中确定的频率信号(f)进行监控，以及在所述频率信号(f)低于将被建立的频率值和/或所述频率信号(f)未达到将被建立的质量特征值的情况下，选择在所述图像处理方法(BVV)中确定的值以用于确定所述相对速度。

2.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，所述频率信号(f)的质量特征是所述频率符号(f)的半宽(FWHM)，和/或信噪比(SNR)，和/或无杂散动态范围(SFDR)。

3.根据权利要求1或2所述的方法，

其特征在于，在选择所述图像处理方法(BVV)中确定的值以用于确定所述相对速度时，针对至少一个质量特征对所述值进行监控，以及在所述确定的值未达到将被建立的质量特征值的情况下，丢弃所述测量。

4.根据权利要求3所述的方法，

其特征在于，在选择所述图像处理方法(BVV)中确定的所述值以用于确定所述相对速度时，针对至少一个质量特征对所述值进行监控，以及在所述确定的值未达到将被建立的质量特征值的情况下，利用以下值来替换所述值：最新确定的有效值、多个最新确定的有效值的平均值，具体是它们的算术平均值或它们的中值，或者所述最新确定的有效值的级数的外插。

5.根据权利要求1-4中任一所述的方法，

其特征在于，在所述图像处理方法(BVV)中确定的、用于确定所述相对速度的所述值通过以下进行确定：定位所述物体表面(O)的特征，以及根据在不同时间获取的图像来确定所述特征的位移。

6.根据权利要求1-4中任一所述的方法，

其特征在于，在所述图像处理方法(BVV)中确定的、用于确定所述相对速度的所述值是在不同时间获取的图像之间相关函数的最大值。

7.根据权利要求6所述的方法，

其特征在于，所述质量特征是半宽(FWHM)，和/或所述相关信号的信噪比(SNR)，和/或所述相关信号的无杂散动态范围(SFDR)。

8.根据权利要求1-7中任一所述的方法，

其特征在于，对所述光敏元件(2)的照明参数进行调节。

9.根据权利要求1-8中任一所述的方法，

其特征在于，对从所述光敏元件(2)读取的数据的信息内容进行检查，并且在信息内容太少的情况下，向用户输出警告信号。

10.一种传感器(1)，用于对物体表面(O)相对于所述传感器(1)的速度进行测量，所述传感器(1)具有彼此在空间上分隔布置的多个光敏元件(2)，并具有控制装置和估算装置(3，6，7)，其中

所述控制装置(3)每隔一段时间从所述传感器(1)的所述光敏元件(2)进行读取，以及所述估算装置(6，7)在每个情况下生成与将被测量的速度成比例的信号，

其特征在于，所述估算装置(6，7)被设计以使得根据空间频率滤波器方法(SFV)和根据图像处理方法(SFV)生成所述信号，并且所述传感器(1)包括选择装置(8)，用于选择在每个情况下根据所述空间频率滤波器方法(SFV)和根据所述图像处理方法(BVV)生成的所述信号，其中

所述选择装置(8)被设计以使得其针对确定的频率值和/或针对至少一个质量特征对所述空间频率滤波器方法(SFV)中确定的频率信号(f)进行监控，以及在所述频率信号(f)低于将被建立的频率值和/或所述频率信号未达到将被建立的质量特征值的情况下，选择在所述图像处理方法(BVV)中确定的值以用于确定所述相对速度。

11.根据权利要求10所述的传感器(1)，

其特征在于，所述传感器(1)的所述光敏元件(2)是CCD或CMOS组件、阵列或线、光电二极管或光电晶体管。

12.根据权利要求10或11所述的传感器(1)，

其特征在于，所述传感器(1)包括调节装置(4)，用于对所述光敏元件(2)的照明参数进行调节。