[发明专利]用于从撞击X射线光子生成可计数脉冲的设备和方法以及对应的成像装置有效
申请号: | 200880101761.9 | 申请日: | 2008-07-24 |
公开(公告)号: | CN101779144A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | R·斯特德曼布克;C·博伊默;C·赫尔曼;G·蔡特勒;H·克吕格尔;W·吕腾;O·米尔亨斯 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/17 | 分类号: | G01T1/17 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 撞击 射线 光子 生成 计数 脉冲 设备 方法 以及 对应 成像 装置 | ||
1.一种用于在成像装置(16)中从撞击X射线光子(12、14)生成可 计数脉冲(30)的设备(10),所述设备(10)包括适于将由撞击光子(12、 14)生成的电荷脉冲(20)转换成电信号(22)的前置放大元件(18),和 具有反馈回路(28)并适于将所述电信号(22)转换成电脉冲(30)的整 形元件(26),其中,将延迟电路(38)连接至所述反馈回路(28),从而 使得延长了所述反馈回路(28)收集所述电信号(22)的电荷的时间,以 便提高在所述整形元件(26)的输出(56)处的所述电脉冲(30)的幅度。
2.根据权利要求1所述的设备,其中,将所述延迟电路(38)连接至 所述整形元件(26)的输入(54)并连接至所述整形元件(26)的所述输 出(56)。
3.根据权利要求1或2所述的设备,其中,所述延迟电路(38)包括 源极跟随器电路(64),其适于对正信号或负信号中的一个缓慢地作出反应。
4.根据权利要求3所述的设备,其中,将所述延迟电路(38)连接至 适于控制所述反馈回路(28)的放电的开关元件(T1)。
5.根据权利要求4所述的设备,其中,用于对所述反馈回路(28)放 电的所述开关元件(T1)的开关动作被所述源极跟随器电路(64)延迟。
6.根据权利要求4或5所述的设备,其中,将所述开关元件(T1)集 成到电流镜(62)中。
7.根据权利要求1所述的设备,其中,将零极点相消元件(58)电连 接在所述前置放大元件(18)和所述整形元件(26)之间。
8.根据权利要求1所述的设备,其中,为所述整形元件(26)提供补 偿电路(66),该补偿电路(66)适于对由所述延迟电路(38)引入的依赖 性进行补偿。
9.根据权利要求8所述的设备,其中,所述补偿电路(66)适于通过 变更所述前置放大元件(18)和/或所述整形元件(26)的参考电压(VR) 来进行补偿。
10.根据权利要求1所述的设备,其中,将串联连接的两个拓扑电流 镜(70、72)与所述整形元件(26)的放大电路(52)并联连接。
11.根据权利要求10所述的设备,其中,将电流吸收器(I偏置3)连接 至所述两个拓扑电流镜(70、72)。
12.根据权利要求1所述的设备,其中,所述设备(10)具有差分设 计,从而使得第一信号(74)和第二信号(74’)之间的差异被处理,所述 第一信号(74)和所述第二信号(74’)分别是进入所述整形元件(26)的 差分放大元件(52)的负输入和正输入的信号。
13.根据权利要求12所述的设备,其中,所述整形元件(26)中适于 处理所述第一信号(74)的作为电路的第一部分(78)与所述整形元件(26) 中适于处理所述第二信号(74’)的作为电路的第二部分(78’)具有相同 的设计。
14.根据权利要求1所述的设备,其中,所述成像装置(16)包括计 算机断层摄影机。
15.根据权利要求8所述的设备,其中,所述依赖性包括温度依赖性。
16.一种基于X射线光子(12、14)的计数的成像装置(16),包括根 据任意前述权利要求所述的设备(10)。
17.根据权利要求16所述的成像装置,其中,所述成像装置(16)用 于医学应用。
18.根据权利要求16所述的成像装置,包括计算机断层摄影机。
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