[发明专利]用于测量辐射的X射线源

权利要求书

1、一种阳极盘，用于测量旋转阳极X射线管的散射辐射或用于向感兴 趣对象发射电磁辐射，所述阳极盘包含：

至少一个狭缝；

其中，所述狭缝位于所述阳极盘的目标区域中；并且其中，狭缝 开口适于至少部分地被所述X射线管的阴极电子束穿透。

2、如权利要求1所述的阳极盘，其中，所述狭缝的宽度在0.9mm和 10mm之间或0.4mm和30mm之间的范围内。

3、根据权利要求1或2所述的阳极盘，所述阳极盘还包含

至少一个腔洞；

其中，所述腔洞合并了所述狭缝。

4、一种X射线管，包含根据权利要求1至3中的一项所述的阳极盘； 所述X射线管还包含：

固定阳极或第二旋转盘阳极；

阴极；

其中，所述阳极盘位于所述阴极和所述固定阳极或所述第二旋转 盘阳极之间。

5、如权利要求4所述的X射线管，其中，所述固定阳极或所述第二盘 状阳极可这样移动，使得所述阴极与所述固定阳极或所述第二盘状阳极上 的焦斑之间的距离可变。

6、如权利要求4所述的X射线管，其中，所述固定阳极或所述第二盘 状阳极可在平行和/或垂直于所述阴极电子束的轴向方向的方向上移动。

7、如权利要求4至6中至少一项所述的X射线管，包含

孔径设备，其中，所述孔径设备至少可在所述阴极电子束的轴向方向 上移动。

8、如权利要求4至7中至少一项所述的X射线管，包含

体积改变设备，其含有可移动的固定阳极或第二盘状阳极，其中，所 述体积改变设备适于保持所述X射线管的真空状态。

9、如权利要求7所述的X射线管，其中，所述体积改变设备是波纹管 设备。

10、一种用于检查感兴趣对象的检查装置，所述检查装置包含：

如权利要求4至9中的一项所述的X射线管，其适于向所述感兴趣对 象发射电磁辐射；

探测器单元，其适于探测来自所述感兴趣对象的图像数据和/或散射数 据；

抗散射栅，其适于使所述电磁辐射衰减；

所述抗散射栅界定了焦点范围，从中第一焦点可向所述探测器单元直 接发送辐射；

其中，在第一时期探测相对于所述探测器单元的所述电磁辐射的第一 焦点的图像数据；并且

其中，在显著地比所述第一时期短的第二时期探测所述电磁辐射的次 级焦点的散射数据或图像数据；

其中，所述第一焦点由所述X射线管的所述阳极盘产生；

其中，所述次级焦点由所述X射线管的所述固定阳极或所述第二阳极 盘产生。

11、如权利要求10所述的检查装置，

其中，所述次级焦点在所述抗散射栅的所述焦点范围之外。

12、根据权利要求10或11所述的检查装置，

其中，所述抗散射栅(ASG)是一维抗散射栅或二维抗散射栅。

13、根据权利要求10至12中的一项所述的检查装置，

其中，所述第一时期和所述第二时期对应于探测序列。

14、根据权利要求10至13中的一项所述的检查装置，

将其配置为包括行李检测装置、医疗应用装置、材料测试装置和材料 科学分析装置的组中的一个。

15、一种检查感兴趣对象的方法，所述方法包含如下步骤：

由旋转阳极X射线管的阳极盘在第一焦点内发射电磁辐射；

由所述X射线管的固定阳极或第二旋转盘阳极在次级焦点内发射电磁 辐射；

在第一时期探测来自所述第一焦点的图像数据；

在第二时期探测次级焦点的散射数据或图像数据。

16、如权利要求15所述的方法，其中，所述次级焦点在多个第二时期 的第一序列期间沿阴极电子束的方向进行移动。