[发明专利]MALDI质谱分析用的试样架及质谱分析方法

权利要求书

1.一种MALDI质谱分析用的试样架，所述试样架具有CuO二次粒 子作为激光吸收基质，所述CuO二次粒子分散在水或醇中，并且在涂 敷于MALDI质谱分析用的试样基板上后干燥，其由平均粒径100nm以 下的CuO一次粒子集合而成，并具有由构成最表层的一次粒子的形状 所引起的凹凸表面。

2.如权利要求1所述的MALDI质谱分析用的试样架，其中，所述 CuO二次粒子的来源为，通过将在将硝酸铜水溶液混合到碳酸氢铵水 溶液中的工序中所生成的碱式碳酸铜在200～300℃下进行大气烧结 而合成的CuO粉末。

3.如权利要求1或者2所述的MALDI质谱分析用的试样架，其中， 所述CuO二次粒子的平均粒径为0.3～10μm。

4.一种质谱分析方法，其包括：

将由平均粒径100nm以下的CuO一次粒子集合而成的二次粒子即 具有由构成最表层的一次粒子的形状所引起的凹凸表面的CuO二次粒 子分散于水或醇中制得分散液的工序；通过在将该分散液涂敷于 MALDI质谱分析用的试样基板上之后使其干燥，得到载持有所述CuO 二次粒子的试样架的工序；通过在将溶解有作为分析对象的有机化合 物的试样溶液涂敷于所述试样架的CuO二次粒子载持部位之后使其干 燥，将试样物质粘附于CuO上的工序；通过在将该试样架设置于MALDI 质谱分析装置中之后照射脉冲激光，使CuO二次粒子作为激光吸收基 质发挥功能，对试样物质进行离子化的工序。

5.如权利要求4所述的质谱分析方法，其中，所述有机化合物是 分子量为100～5000的有机化合物。