[发明专利]放射线检测设备和放射线成像系统有效

专利信息
申请号: 200880020617.2 申请日: 2008-07-18
公开(公告)号: CN101682687A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 望月千织;渡边实;石井孝昌 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H04N5/217 分类号: H04N5/217;H04N5/32;G01T1/29;H01L27/146
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杨国权
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射线 检测 设备 成像 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种放射线检测设备和一种放射线成像系统。顺便提 及的是,本说明书假设例如可见光的电磁波、X射线、α射线、β射线、 γ射线等也被包括在放射线中。此外,转换元件包括光电转换元件,用 于将光(例如可见光)转换为电信号。

背景技术

传统上,用于医疗诊断成像的放射线照相分类为:普通放射线照 相,用于获得静止图像(例如X射线放射线照相);和荧光透视放射 线照相,用于获得运动图像。对于每种放射线照相,根据场合需要, 执行放射线照相的选择,以包括选择放射线照相设备。

近年来,已经关注平板检测器,其包括传感器板,在传感器板上, 在衬底上按矩阵布置各像素,每一像素包括转换元件和开关元件,所 述转换元件用于将放射线或来自闪烁层的光转换为电荷。以下,平板 检测器将简写为FPD。

特别地,如在WO 91/03745(PCT申请的公开的日文翻译 No.H07-502865)、USP 6,075,256(日本专利申请特开No.H08-116044) 以及US 2003/0226974(日本专利申请特开2004-015002)中描述的那 样使用通过使用非晶体半导体(例如非晶硅)制备的转换元件、以及 通过使用非晶体半导体制备的薄膜晶体管。

以下,非晶体半导体将简写为a-Si,并且以下,薄膜晶体管将简 写为TFT。前述FPD已经开始应用于从普通放射线照相到荧光透视 放射线照相的广泛范围的放射线照相。

此外,这种设备被要求减少剂量(dosage),并且通常总是要求 通过改进开口率来改进信号输出和减少噪声。特别地,线路噪声(line noise)的减少带来的重大效果是改进了FPD的灵敏度。

已经考虑了消除线路噪声生成因素(外部因素和内部因素)的方 法以及进行补偿的方法,并且提出了各种方法作为噪声补偿方法。例 如,US 2006/0065845(日本专利申请特开No.2006-101394)提出的方 法是:通过平行于信号线布置噪声补偿线而从信号输出减去因在信号 线和栅极线的交叉部分处生成的寄生电容而产生的噪声。在该文献中, 噪声被看作偏移分量。

此外,通过分别获取放射线照射之前的暗输出以及放射线照射之 后的光输出,以及通过在获取之后从光输出扣除暗输出,而获得这种 放射线检测设备的图像数据。

换句话说,为了获得一幅图像,总是需要从光输出扣除暗输出, 并且因此,扣除对于高速操作(即,在运动图像驱动中的操作速度的 改进)变为大问题。

此时,虽然还考虑将暗输出的读取频率抑制到最小,也就是说, 通过使用初始暗输出数据执行扣除,但可以说,鉴于图像质量,期望 每次都执行扣除,或者以特定频率执行扣除。

作为示例,USP 6,696,687(日本专利申请特开No.2001-56382) 还提出了提供在FPD的端部没有光电转换元件的伪(dummy)像素, 并且将伪像素的输出作为偏移输出从图像读取输出移除。

发明内容

然而,通过仅在配线交叉部分执行补偿的补偿方法不足以消除噪 声,该方法在US 2006/0065845(日本专利申请特开No.2006-101394) 中公开。

此外,通过USP 6,696,687(日本专利申请特开No.2001-56382) 中公开的方法,消除因偏移分量(所谓的暗输出)而产生的噪声的精 度不足,该方法从整个X射线检测部分的光输出扣除仅在X射线检测 部分的端部布置的伪像素的暗输出。

因此,仍然寻求噪声的减少,并且已在寻找一种获得良好图像的 方法。

相应地,本发明目的是提供一种放射线检测设备和一种放射线成 像系统,二者皆能够减少噪声以获得良好图像。

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