[发明专利]叠层结构的图像传感器及其制造方法无效
| 申请号: | 200880019179.8 | 申请日: | 2008-06-09 |
| 公开(公告)号: | CN101707898A | 公开(公告)日: | 2010-05-12 |
| 发明(设计)人: | 李炳洙 | 申请(专利权)人: | (株)赛丽康 |
| 主分类号: | H01L27/14 | 分类号: | H01L27/14 |
| 代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 余朦;王艳春 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 结构 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种叠层图像传感器,包括:
晶片,在所述晶片中外围电路形成于半导体衬底的上部;以及
光敏元件部分,形成于所述晶片的上部,
其中,所述光敏元件部分具有光电导薄膜。
2.如权利要求1所述的叠层图像传感器,其中,所述晶片包括:
第一导电型高浓度掺杂的半导体衬底;
第一导电型低浓度外延层,形成于所述半导体衬底上;
栅氧化层,形成于所述外延层上;
一个或多个晶体管栅极,形成于所述栅氧化层上;
第二导电型电极,形成于所述外延层的上部上;
沟道,与相邻的像素隔离;
金属互连线,电连接至所述电极;以及
用于层间绝缘的绝缘层。
3.如权利要求1所述的叠层图像传感器,其中,所述光敏元件部分包括:
金属垫,形成于所述晶片的上部;
光电导薄膜,形成于所述金属垫的上部;
透明导电氧化层,形成于所述光电导薄膜的上部用于电接触;
彩色滤光片,形成于所述透明导电氧化层的上部;以及
微透镜,形成于所述彩色滤光片的上部。
4.如权利要求3所述的叠层图像传感器,其中,所述金属垫通过所述金属互连线电连接至所述晶片。
5.如权利要求3所述的叠层图像传感器,其中,所述光电导传感器是氢化非晶硅薄膜。
6.如权利要求1所述的叠层图像传感器,其中,所述光敏元件部分包括:
金属垫,形成于所述晶片的上部;
光电导薄膜,形成于所述金属垫的上部;
非导电氧化层,形成于所述光电导薄膜的上部;
金属电极层,电连接至所述光电导薄膜;
彩色滤光片,形成于所述非导电氧化层的上部;以及
微透镜,形成于所述彩色滤光片的上部。
7.一种制造叠层图像传感器的方法,包括:
形成晶片的步骤,在所述晶片中外围电路形成在半导体衬底上;以及
在所述晶片的上部上形成具有光电导薄膜的光敏元件部分的步骤。
8.如权利要求7所述的方法,其中,形成晶片的步骤包括:
在第一导电型半导体衬底上形成第一导电型低浓度外延层的步骤;
在所述外延层上形成用于与相邻像素绝缘的沟道的步骤;
在所述外延层上形成栅氧化层的步骤;
在所述外延层上形成第二导电型电极的步骤;
在所述栅氧化层上形成晶体管栅电极的步骤;
形成用于电连接至所述电极的金属互连线的步骤;以及
形成用于层间绝缘的绝缘层的步骤。
9.如权利要求7所述的方法,其中,形成光敏元件部分的步骤包括:
在所述晶片的上部上形成用于形成所述光电导薄膜的金属垫的步骤;
在所述金属垫的上部上形成所述光电导薄膜的步骤;以及
形成用于电连接至所述光电导薄膜的上部的透明导电氧化层的步骤。
10.如权利要求7所述的方法,其中,形成光敏元件部分的步骤包括:
在所述晶片的上部上形成用于形成所述光电导薄膜的金属垫的步骤;
在所述金属垫的上部上形成所述光电导薄膜的步骤;以及
在所述光电导薄膜的上部上形成非导电氧化层并形成电连接至所述光电导薄膜的金属电极层的步骤。
11.如权利要求9或10所述的方法,其中,形成光敏元件部分的步骤进一步包括:
在所述透明导电氧化层的上部上形成彩色滤光片的步骤;以及
在所述彩色滤光片上形成微透镜的步骤。
12.如权利要求9或10所述的方法,其中,形成光电导薄膜的步骤通过使用氢化非晶硅实现。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于(株)赛丽康,未经(株)赛丽康许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880019179.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高空作业工具防坠落装置
- 下一篇:脊柱后凸畸形患者仰卧位体位垫
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





