[发明专利]电子存储器的基于分区的感测及划分

权利要求书

1.一种决定四位双单元存储器器件(102，202，302)的位级的系统，该系 统包括：

多位存储器单元(304，306,308)，其编程为不同的位级(404-434， 502-516，602-608，612-618)，其中，所述位级的位状态由参考点所指 示的临界位级相区隔；

感测组件(104，204，310)，其测量第一存储器单元(304)的第一位级 与第二存储器单元(306)的第二位级；以及

比较组件(106，206，314)，其使该第一存储器单元(304)的第一位 级、该第二存储器单元(306)的第二位级与第一参考位级(436，522， 622)有关连，分离该第二存储器单元(306)的该第二位级，决定该第 一存储器单元(304)的第一位级的第一位状态或该第二存储器单元 (306)的第二位级的第二位状态。

2.如权利要求1所述的系统，其中，该第一参考位级(436，522，622) 包含固定的存储器单元级，用以比较所述存储器单元(304,306,308)的位 级(404-434，502-516，602-608，612-618)。

3.如权利要求1所述的系统，其中，该比较组件(106,206，314)进一步 使该第一位级与第二参考位级(518，520，610，620)有关连，其中，基于 该第一位级与该第二参考位级(518，520，610，620)之间的关连性，而使 该第一位级与该第一存储器单元(304)相关连的位级(502-504，506-508， 510-512，514-516)匹配，该第一参考位级(436，522，622)与该第二参考位 级(518，520，610，620)分别限制在与该第二位级(404-434)和该第一位级 (502-504，506-508，510-512，514-516)相关联的两个或更多个位级。

4.一种用以测量四位双单元存储器器件(102，202，302)的位级的方法， 该方法包括：

对多位存储器单元(304,306,308)编程为不同的位级 (404-434,502-516,602-608,612-618)，其中，所述位级的位状态由参考 点所指示的临界位级相区隔；

测量存储器器件(102,202,302)的第一存储器单元(304)的第一位 级；

将该第一位级与第一参考位级(436，522，622)比较；

分离第二存储器单元(306)的第二位级；以及

至少部分基于该第一位级与该第一参考位级(436，522，622)的比 较，决定该存储器器件(102，202，302)的该第一存储器单元(304)的第 一位级的第一位状态或该第二存储器单元(306)的第二位级的第二位 状态。

5.如权利要求4所述的方法，进一步包括舍弃与该第二存储器单元 (306)相关联的第二位状态(404-434，502-516，602-608，612-618)，回应该 第二位级(404-434，502-516，602-608，612-618)与该第一参考位级(436， 522，622)比较后而该第二位级与该第一参考位级不同的决定。

6.如权利要求5所述的方法，进一步包括比较该第二位级与第二参考 位级(518，520，610，620)。

7.如权利要求6所述的方法，进一步包括比较该第二位级与第三参考 位级(706,712,718,724,806,812,818,824,518,520,610,620)，其中该第三参 考位级(706,712,718,724,806,812,818,824,518,520,610,620)区别四位单 元的两个不重叠的位(702-710，714-716，720-722，802-810，814-816， 820-822，902-940)。