[发明专利]光学拾波装置、光盘装置有效
申请号: | 200880014961.0 | 申请日: | 2008-04-17 |
公开(公告)号: | CN101675474A | 公开(公告)日: | 2010-03-17 |
发明(设计)人: | 麻田润一;西胁青儿;百尾和雄 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09;G11B7/135 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 | 代理人: | 杨 暄;吕静姝 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 装置 光盘 | ||
技术领域
本发明涉及一种用激光光源对光盘等光记录媒体进行信息的读出、写入及消去中的至少一个的光学拾波装置及采用了该光学拾波装置的光盘装置。
图5A是表示专利文献1中记载的光学拾波装置的概略构成的侧视图,图5B是从VB-VB线来看图5A所示的光源部分的图。
图5A及5B所示的光学拾波装置12如DVD和CD那样,用在对应于规格不同的第1光盘6及第2光盘6’的光盘装置中,并用以用对应于各个规格的波长的光,来分别对第1光盘6及第2光盘6’进行信息的读出、写入及消去。具体而言,光学拾波装置12包括:生成与接收到的光强度相应的电信号的光检测器9、配置在光检测器9上并射出波长为λ1的第1激光和波长为λ2(其中,λ2>λ1)的第2激光的激光光源1、配置在光检测器9上的反射镜10、照准透镜4、偏光性全息元件2、1/4波长板3、以及物镜5。
在使用第1光盘6时,激光光源1从发光点1a射出第1激光(波长λ1)。所射出的第1激光通过安装在光检测器9上的反射镜10在与光检测器9的检测表面9a正交的方向上反射,而入射到照准透镜4。入射到照准透镜4的光在转换为大致平行光之后,穿透偏光性全息元件2,而入射到1/4波长板3。1/4波长板3将入射的直线偏振光(S波或P波)转换为圆偏振光。从1/4波长板3所射出的光通过物镜5聚光,而在第1光盘6的信号表面6a上形成光点。通过信号表面6a反射的光在穿透物镜5,并由1/4波长板3再次转换为直线偏振光(P波或S波)之后,入射到偏光性全息元件2的全息图表面(hologram surface)2a。 入射到偏光性全息元件2的光被全息图表面2a衍射,并分支为以第1激光的光轴7为对称轴的1级衍射光8和-1级衍射光8’之后,穿透照准透镜4而入射到光检测器9的检测表面9a。
另一方面,在使用第2光盘6’时,激光光源1从发光点1a’射出第2激光(波长λ2,其中λ2>λ1)。所射出的第2激光在通过安装在光检测器9上的反射镜10反射之后,由照准透镜4转换为大致平行光。从照准透镜4所射出的光在穿透偏光性全息元件2,并由1/4波长板3转换为圆偏振光之后,通过物镜5聚光,而在第2光盘6’的信号表面6a’上形成光点。通过信号表面6a’反射的光在穿透物镜5,并由1/4波长板3再次转换为直线偏振光(P波或S波)之后,入射到偏光性全息元件2的全息图表面2a。入射到偏光性全息元件2的光在被全息图表面2a衍射,并分支为以第2激光的光轴7’为对称轴的1级衍射光11和-1级衍射光11’之后,穿透照准透镜4而入射到光检测器9的检测表面9a。
图6是表示从图5A所示的VI-VI线来看的全息图表面2a的概略构成的图。此外,在图6中,用点划线表示在使用第2激光时来自第2光盘6’的0级衍射光及±1级衍射光入射到全息图表面2a的位置。
在全息图表面2a形成有圆形衍射区域。该衍射区域被在光轴7所通过的点20正交的两条直线(在光盘的直径方向上延伸的x轴和在与x轴正交的方向上延伸的y轴)分割成4个区域。并且,位于xy坐标上的各个象限的区域分别被分割成3个区域,形成有区域21a~21c(第1象限)、区域22a~22c(第2象限)、区域23a~23c(第3象限)及区域24a~24c(第4象限)。
被光盘衍射的0级衍射光及±1级衍射光入射到全息图表面2a,但在使用第1激光时和在使用第2激光时,0级衍射光及±1级衍射光所入射的区域不同。
首先,在使用第1激光(第1光盘6)时,只有通过信号表面6a上的轨道形状而反射且未被衍射的0级衍射光入射到区域21a、22a、23a、24a、21b、22b、23b及24b,而来自第1光盘6的0级衍射光和1级衍射光(+1级衍射光或-1级衍射光中的任意一个)入射到其余的区域21c、22c、23c及24d。
其次,在使用第2激光(第2光盘6’)时,只有通过信号表面6a’上的轨道形状而反射且未被衍射的0级衍射光入射到区域21a、22a、23a及24a,而来自第2光盘6’的0级衍射光和1级衍射光入射到其余的区域21b、22b、23b、24b、21c、22c、23c及24c。此外,将区域21b、22b、23b及24b的尺寸形成为相对于0级衍射光和1级衍射光所入射的区域(点划线)而增大了规定余量(margin),以免1级衍射光因物镜5与偏光性全息元件2之间的位置偏差而进入区域21a、22a、23a及24a。
图7及8是表示图5A所示的光检测器9上的检测模式和检测光分布的图,图7与使用第1激光的情况相对应,图8与使用第2激光的情况相对应。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200880014961.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。