[发明专利]具有对由MR线圈导致的辐射吸收进行校正的混合MR/PET有效
| 申请号: | 200880014774.2 | 申请日: | 2008-04-17 |
| 公开(公告)号: | CN101675355B | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
| 发明(设计)人: | M·A·莫里希;G·D·德梅斯泰;D·加尼翁 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/48 | 分类号: | G01R33/48;G01T1/161 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 王英,刘炳胜 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 mr 线圈 导致 辐射 吸收 进行 校正 混合 pet | ||
1.一种成像方法,包括:
利用与受检者设置在一起的磁共振部件(30,30')采集所述受检者的磁共振数据,所述磁共振部件被配置为在所述磁共振数据的采集中与磁共振成像仪协作;
在存在与所述受检者设置在一起的所述磁共振部件的情况下采集所述受检者的核成像数据;
确定所述磁共振部件相对于所述核成像数据的参照系的位置;以及
重构所述核成像数据(60)以产生所述受检者的至少一部分的核图像(62),所述重构包括基于给出了所述磁共振部件的辐射吸收特性的密度图(46)和确定出的所述磁共振部件相对于所述核成像数据的所述参照系的位置调节所述核成像数据和所述核图像中的至少一个,以对所述核图像进行由所述磁共振部件导致的辐射吸收的校正。
2.根据权利要求1所述的成像方法,还包括:
重构所述磁共振数据以产生所述受检者的至少一部分的磁共振图像。
3.根据权利要求1所述的成像方法,其中,所述磁共振部件(30)与受检者支撑(22)相连接,所述受检者支撑在采集磁共振数据期间以及采集核成像数据期间支持所述受检者和所述磁共振部件,且所述确定包括:
基于所述受检者支撑(22)相对于所述核成像数据的所述参照系的位置以及预先确定的所述磁共振部件相对于所述受检者支撑的位置,确定所述磁共振部件(30)相对于所述核成像数据的所述参照系的位置。
4.根据权利要求3所述的成像方法,还包括:
检测所述磁共振部件(30)与所述受检者支撑(22)的连接,取决于所述检测执行所述核成像数据和所述核图像中的至少一个的调节。
5.根据权利要求1所述的成像方法,其中,所述确定包括:
根据所采集的核成像数据(60)定位设置于所述磁共振部件(30')上的一个或多个基准标记(90)的位置;以及
从所述一个或多个基准标记的所述位置导出所述磁共振部件相对于所述核成像数据的所述参照系的位置。
6.根据权利要求5所述的成像方法,其中,所述定位包括:
重构所述核成像数据(60)以产生未校正的核图像(84);以及
在所述未校正的核图像中识别所述一个或多个基准标记(90)的所述位置。
7.根据权利要求1所述的成像方法,其中,所述确定包括:
根据所采集的核成像数据和所述磁共振数据(76)中的至少一个定位设置于所述磁共振部件(30')上的一个或多个基准标记(80,90)的位置;以及
从定位到的所述一个或多个基准标记的位置导出所述磁共振部件(30')相对于所述核成像数据(60)的所述参照系的位置。
8.根据权利要求1所述的成像方法,其中,所述确定包括:
采集所述受检者以及与所述受检者设置在一起的磁共振部件(30,30')的超短回波时间磁共振成像数据;
重构所述超短回波时间磁共振成像数据以产生包括对应于所述磁共振部件的至少一部分的对比度的超短回波时间图像;以及
基于所述超短回波时间图像确定所述磁共振部件相对于所述核成像数据的所述参照系的位置。
9.根据权利要求1所述的成像方法,还包括:
采集所述磁共振部件(30,30')的校准核成像数据;以及
重构所述校准核成像数据以产生所述磁共振部件的密度图(46)。
10.根据权利要求1所述的成像方法,其中,所述的磁共振数据的采集和所述的核成像数据的采集是在所述受检者不运动的时段内执行的。
11.根据权利要求1所述的成像方法,还包括如下之一:
将所述受检者和与所述受检者设置在一起的磁共振部件(30,30')从用于进行所述的磁共振数据的采集的磁共振成像仪(10)移动到用于进行所述的核成像数据的采集的核成像仪(12),以及
将所述受检者和与所述受检者设置在一起的磁共振部件(30,30')从用于进行所述的核成像数据的采集的核成像仪(12)移动到用于进行所述的磁共振数据的采集的磁共振成像仪(10)。
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