[发明专利]具有减小的触发电压的堆叠式静电放电保护电路有效
申请号: | 200880012325.4 | 申请日: | 2008-04-14 |
公开(公告)号: | CN101657900A | 公开(公告)日: | 2010-02-24 |
发明(设计)人: | 尤金·沃利 | 申请(专利权)人: | 高通股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H02H9/04 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 刘国伟 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 减小 触发 电压 堆叠 静电 放电 保护 电路 | ||
1.一种堆叠式静电放电保护电路,其包含:
第一电压供应节点;
第一NFET,其具有漏极、栅极、源极和主体,其中所述主体耦合到所述源极,其 中所述第一NFET的所述漏极耦合到所述第一电压供应节点;
第一电阻器,其具有第一引线和第二引线,其中所述第一电阻器的所述第一引线 耦合到所述第一NFET的所述栅极,且其中所述第一电阻器的所述第二引线耦合到所 述第一NFET的所述源极;
第二NFET,其具有漏极、栅极、源极和主体,其中所述主体耦合到所述源极,且 所述第二NFET的所述漏极连接到所述第一NFET的所述源极;
第二电阻器,其具有第一引线和第二引线,其中所述第二电阻器的所述第一引线 耦合到所述第二NFET的所述栅极,且其中所述第二电阻器的所述第二引线耦合到所 述第二NFET的所述源极;以及
第一电容结构,其具有第一引线和第二引线,其中所述第一电容结构取自由以下 各项组成的群组:二极管、金属-绝缘体-金属电容器(MIMCAP)、场绝缘体电容 器、栅极-绝缘体-半导体电容器,其中所述第一电容结构的所述第一引线耦合到所 述第一电压供应节点,其中所述第一电容结构经耦合以供应在ESD事件期间流经所 述第二电阻器的电流。
2.根据权利要求1所述的电路,其中所述第一电容结构的所述第二引线耦合到所述第二 电阻器的所述第一引线。
3.根据权利要求1所述的电路,其进一步包含:
第二电压供应节点,其中在所述ESD事件期间,电流在从所述第一电压供应节点、 穿过所述第一NFET、穿过所述第二NFET并到达所述第二电压供应节点的电流路径 中流动。
4.根据权利要求3所述的电路,其进一步包含:
第三NFET,其具有漏极、栅极、源极和主体,其中所述主体耦合到所述源极; 第三电阻器,其具有第一引线和第二引线,其中所述第三电阻器的所述第一引线 耦合到所述第三NFET的所述栅极,且其中所述第三电阻器的所述第二引线耦合到所 述第三NFET的所述源极;以及
第二电容结构,其具有第一引线和第二引线,其中所述第二电容结构取自由以下 各项组成的群组:二极管、金属-绝缘体-金属电容器(MIMCAP)、场绝缘体电容 器、栅极-绝缘体-半导体电容器,其中所述第二电容结构的所述第一引线耦合到所 述第一电压供应节点,其中所述第二电容结构的所述第二引线耦合到所述第三电阻 器的所述第一引线。
5.根据权利要求1所述的电路,其进一步包含:
第一N阱;
第一P阱,其延伸到所述第一N阱中,其中所述第一NFET的所述主体是所述第一P 阱的一部分;
第二N阱;以及
第二P阱,其延伸到所述第二N阱中,其中所述第二NFET的所述主体是所述第二P 阱的一部分。
6.根据权利要求5所述的电路,其中所述第一N阱耦合到所述第一NFET的所述源极, 且其中所述第二N阱耦合到所述第二NFET的所述源极。
7.根据权利要求5所述的电路,其中所述第一N阱耦合到所述第一NFET的所述漏极, 且其中所述第二N阱耦合到所述第二NFET的所述漏极。
8.根据权利要求5所述的电路,其中所述第一N阱耦合到所述第一电压供应节点,且其 中所述第二N阱耦合到所述第一N阱。
9.根据权利要求1所述的电路,其进一步包含:
共用N阱;
第一P阱,其延伸到所述共用N阱中,其中所述第一NFET的所述主体是所述第一P 阱的一部分;以及
第二P阱,其延伸到所述共用N阱中,其中所述第二NFET的所述主体是所述第二P 阱的一部分。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的