[发明专利]用于同时进行PET和MR成像的PET/MR扫描器有效
| 申请号: | 200880002195.6 | 申请日: | 2008-01-08 |
| 公开(公告)号: | CN101583310A | 公开(公告)日: | 2009-11-18 |
| 发明(设计)人: | V·舒尔茨;T·佐尔夫;J·奥弗韦格;A·托恩 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055;G01R33/42;G01T1/161 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王 英;刘炳胜 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 同时 进行 pet mr 成像 扫描器 | ||
1.一种组合的磁共振(MR)和正电子发射断层摄影(PET)数据采 集系统,包括:
磁共振扫描器,其包括梯度系统(20、21、120)、射频线圈(24、25、 124、125)、射频屏蔽(26、27、126)以及配置为至少在磁共振检查区域 (12)中生成静磁场(B0)的磁体(10、110),所述磁共振扫描器被配置 为从所述磁共振检查区域采集磁共振数据;以及
辐射探测器(40、41、140),其被配置为探测由在正电子发射断层摄 影检查区域(70)中的正电子-电子湮没事件生成的伽马射线,所述辐射探 测器包括具有布置为与所述静磁场(B0)基本平行或反平行的电子加速度 (ae)方向的电子倍增器元件(60、160),其中,所述电子倍增器元件(60、 160)被设置在所述梯度系统(20、21、120)和所述射频屏蔽(26、27、 126)之间。
2.如权利要求1所述的采集系统,其中,所述正电子发射断层摄影检 查区域(70)与所述磁共振检查区域(12)至少部分重叠。
3.如权利要求2所述的采集系统,其中,所述辐射探测器(40、41、 140)包括:
被布置为观察所述正电子发射断层摄影检查区域(70)的第一和第二 平行平面辐射探测器阵列(40、41),所述第一和第二平行平面阵列被布置 为与所述静磁场(B0)正交。
4.如权利要求3所述的采集系统,其中,每个平面辐射探测器阵列(40、 41)包括:
平面阵列的微通道板光电倍增器(60),所述微通道板光电倍增器的电 子透射微通道(64)被布置为平行于所述静磁场(B0);以及
平面阵列的闪烁体(56),其被布置为平行于所述平面阵列的微通道板 光电倍增器,并被设置在所述平面阵列的微通道板光电倍增器和所述正电 子发射断层摄影检查区域(70)之间。
5.如权利要求3所述的采集系统,其中,所述磁共振扫描器还包括:
射频线圈(24、25、26、27),其包括射频屏或屏蔽(26、27),所述 射频线圈具有布置为与相应的所述第一和第二平行平面辐射探测器阵列 (40、41)平行的第一和第二平面部分(24、25)。
6.如权利要求1所述的采集系统,其中,所述磁共振扫描器包括生成 所述静磁场(B0)的大体圆柱形的磁体(110),其中,所述静磁场(B0) 被定向为平行于所述大体圆柱形的磁体的圆柱轴,并且所述辐射探测器 (140)被布置为在所述大体圆柱形的磁体之内。
7.如权利要求6所述的采集系统,其中,所述正电子发射断层摄影检 查区域(70)与所述磁共振检查区域(12)至少部分重叠。
8.如权利要求6所述的采集系统,其中,所述辐射探测器(140)包 括:
闪烁体(156),其被布置在所述大体圆柱形的磁体之内;以及
微通道板光电倍增器(160),其被布置为观察所述闪烁体,所述微通 道板光电倍增器的电子透射微通道(164)被布置为平行于所述静磁场并平 行于所述大体圆柱形的磁体的所述圆柱轴。
9.如权利要求1所述的采集系统,其中,所述辐射探测器还包括闪烁 体(56、156),其中的每个闪烁体都与所述电子倍增器元件(60、160)中 的多个电子倍增器元件光学耦合,所述数据采集系统还包括:
处理器(45、80、81、180),其被配置为基于来自与所述闪烁体(56、 156)中的一个光学耦合的所述多个电子倍增器元件(60、160)的探测信 号计算在所述闪烁体(56、156)中的所述一个内生成的光猝发的定位位置。
10.如权利要求9所述的采集系统,其中,所述射频屏蔽(26、27、 126)被设置在所述电子倍增器元件(60、160)和所述检查区域(12)之 间。
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