[发明专利]电化学测定用电极板、具有该电极板的电化学测定装置、和使用该电极板对目标物质进行定量的方法有效

专利信息
申请号: 200880001929.9 申请日: 2008-07-15
公开(公告)号: CN101595381A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 佐佐木英弘;冲明男 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电化学 测定 用电 极板 具有 装置 使用 目标 物质 进行 定量 方法
【权利要求书】:

1.一种电化学测定用电极板,其特征在于,包括:

由绝缘体构成的基板;

在所述基板的上表面设置的由绝缘体构成的上层;和

在所述基板的下表面设置的由绝缘体构成的下层,

所述基板包括:

夹在所述基板的上表面和所述上层之间的多个氧化电极;和

夹在所述基板的下表面和所述下层之间的多个还原电极,

所述上层具有多个上层开口部,

各所述氧化电极从各所述上层开口部露出,

所述下层具有多个下层开口部,

各所述还原电极从各所述下层开口部露出,

在所述基板上设置有从各所述氧化电极的上表面至各所述还原电 极的下表面贯通的多个贯通孔,

各所述上层开口部的面积与各所述下层开口部的面积相同,

各所述上层开口部的面积为10000μm2以下,

各所述下层开口部的面积为10000μm2以下。

2.如权利要求1所述的电化学测定用电极板,其特征在于:

各所述上层开口部的面积为225μm2以上,

各所述下层开口部的面积为225μm2以上。

3.如权利要求1所述的电化学测定用电极板,其特征在于:

所述贯通孔的截面积为1μm2以上2500μm2以下。

4.如权利要求1所述的电化学测定用电极板,其特征在于:

所述下层的厚度为5μm以上100μm以下。

5.一种电化学测定装置,其包括参考电极、辅助电极和电化学测 定用电极板,其特征在于:

所述电化学测定用电极板包括:

由绝缘体构成的基板;

在所述基板的上表面设置的由绝缘体构成的上层;和

在所述基板的下表面设置的由绝缘体构成的下层,

所述基板包括:

夹在所述基板的上表面和所述上层之间的多个氧化电极;和

夹在所述基板的下表面和所述下层之间的多个还原电极,

所述上层具有多个上层开口部,

各所述氧化电极从各所述上层开口部露出,

所述下层具有多个下层开口部,

各所述还原电极从各所述下层开口部露出,

在所述基板上设置有从各所述氧化电极的上表面至各所述还原电 极的下表面贯通的多个贯通孔,

各所述上层开口部的面积与各所述下层开口部的面积相同,

各所述上层开口部的面积为10000μm2以下,

各所述下层开口部的面积为10000μm2以下。

6.一种电化学测定装置,其包括对电极和电化学测定用电极板, 其特征在于:

所述电化学测定用电极板包括:

由绝缘体构成的基板;

在所述基板的上表面设置的由绝缘体构成的上层;和

在所述基板的下表面设置的由绝缘体构成的下层,

所述基板包括:

夹在所述基板的上表面和所述上层之间的多个氧化电极;和

夹在所述基板的下表面和所述下层之间的多个还原电极,

所述上层具有多个上层开口部,

各所述氧化电极从各所述上层开口部露出,

所述下层具有多个下层开口部,

各所述还原电极从各所述下层开口部露出,

在所述基板上设置有从各所述氧化电极的上表面至各所述还原电 极的下表面贯通的多个贯通孔,

各所述上层开口部的面积与各所述下层开口部的面积相同,

各所述上层开口部的面积为10000μm2以下,

各所述下层开口部的面积为10000μm2以下。

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