[发明专利]分光模块无效
| 申请号: | 200880000506.5 | 申请日: | 2008-06-05 |
| 公开(公告)号: | CN101542248A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
| 发明(设计)人: | 柴山胜己;H·泰希曼;铃木智史;D·希勒;U·施塔克 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02 |
| 代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙 淳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 分光 模块 | ||
技术领域
本发明涉及对光进行分光并进行检测的分光模块。
背景技术
现有的分光模块,例如有专利文献1所记载的分光模块,该分光 模块具备:使光透过的支撑体、使光入射于支撑体的入射狭缝部、对 入射于支撑体的光进行分光并进行反射的凹面衍射光栅、以及检测被 凹面衍射光栅分光并反射的光的二极管。
专利文献1:日本特许第3119917号公报
发明内容
然而,上述的分光模块中,当将入射狭缝部及二极管安装于支撑 体时,入射狭缝部和二极管的相对的位置关系发生偏移,分光模块的 可靠性有可能下降。
因此,本发明是鉴于上述问题而提出的,其目的在于,提供一种 可靠性高的分光模块。
为了达到上述目的,本发明的分光模块的特征在于,具备:本体 部,使光透过;分光部,对从本体部的规定的面入射于本体部的光进 行分光,并向规定的面侧反射;以及光检测元件,被支撑于规定的面 上,检测被分光部分光并反射的光,光检测元件具有使入射于本体部 的光通过的光通过开口,在光通过开口,配置有对入射于本体部的光 进行导光的光学元件。
在该分光模块中,光检测元件具有使入射于本体部的光通过的光 通过开口。因此,能够防止光通过开口和光检测元件的光检测部的相 对的位置关系发生偏移。并且,在光通过开口,配置有对入射于本体 部的光进行导光的光学元件。因此,应该入射于本体部的光的一部分 不被光通过开口的光入射侧缘部遮蔽,能够切实地对应该入射于本体 部的光进行导光。所以,根据该分光模块,能够提高可靠性。
在本发明的分光模块中,优选光学元件的光入射端面从光检测元 件突出。依照这种构成,能够进一步切实地对应该入射于本体部的光 进行导光。
在本发明的分光模块中,优选光通过开口具有形成于规定的面的 相反侧的凹部、以及形成于凹部的底面的贯通孔,光学元件配置于凹 部。依照这种构成,能够在实现应该入射于本体部的光的切实的导光 的同时,将贯通孔狭缝化。
在本发明的分光模块中,优选在规定的面形成有光吸收层,该光 吸收层具有使入射于本体部的光通过的光通过孔,光学元件以其光出 射端面与光通过孔相对的状态与光吸收层相接。依照这种构成,能够 在实现应该入射于本体部的光的切实的导光的同时,将光通过孔狭缝 化。
在本发明的分光模块中,优选光学元件为光纤。于是,能够在保 持光纤的芯径的同时,对在光纤的光入射端面接受的光进行导光。这 时,优选光纤为光纤束。于是,能够增加入射于本体部的光的光量。
依照本发明,能够提高可靠性。
附图说明
图1是第1实施方式的分光模块的平面图。
图2是沿图1所示的II-II线的截面图。
图3是第2实施方式的分光模块的纵截面图。
符号说明
1:分光模块;2:本体部;21、22:光透过部件;2a:前面(规定 的面);3:分光部;4:光检测元件;6:光吸收层;6a:光通过孔; 6b:光通过孔;7:光学元件;7a:光入射端面;7b:光出射端面。
具体实施方式
以下,参照附图,详细地说明本发明的优选实施方式。另外,在 各图中,对于同一或相当的部分赋予相同的符号,省略重复的说明。
(第1实施方式)
如图1及图2所示,分光模块1具备:本体部2,使光透过;分光 部3,对从本体部2的前面(规定的面)2a入射于本体部2的光L1进 行分光,并向前面2a侧反射;以及光检测元件4,被支撑于前面2a上, 检测被分光部3分光并反射的光L2。分光模块1通过在分光部3将光 L1分光为多个光L2,并在光检测元件4检测光L2,从而测量光L1的 波长分布和特定波长成分的强度等。
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