[实用新型]一种电路放电检测装置无效

专利信息
申请号: 200820214962.7 申请日: 2008-12-26
公开(公告)号: CN201355386Y 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 徐毅刚;李东跃 申请(专利权)人: 无锡市星迪仪器有限公司
主分类号: G01R31/308 分类号: G01R31/308;G01C11/00
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 代理人: 曹祖良
地址: 214028江苏省无锡市新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 电路 放电 检测 装置
【权利要求书】:

1、一种电路放电检测装置,包括紫外辐射成像系统、可见光成像系统和图像融合处理系统(6),其特征是:所述紫外辐射成像系统包括紫外物镜(11)、位于紫外物镜(11)后面的紫外像增强器(10)及图像采集系统(9);紫外物镜(11)捕获放电火花(1)所发出的紫外辐射,经紫外像增强器(10)增强后,由图像采集系统(9)产生并输出放电火花图像(8);所述可见光成像系统包括物镜,位于物镜后面的可见光摄像系统(4);所述物镜捕获被测电路(2)的图像,经可见光摄像系统(4)产生并输出被测电路的实体图像(5);所述图像融合处理系统(6)位于图像采集系统(9)与物镜的后面,通过图像融合处理系统(6)对检测到的放电火花图像(8)与被测电路的实体图像(5)进行捕获与处理,形成标识出放电火花图像(8)及其位置的被测电路图像(7)。

2、如权利要求1所述的电路放电检测装置,其特征是:所述物镜为独立的摄像物镜(3)。

3、如权利要求1所述的电路放电检测装置,其特征是:所述物镜为紫外物镜(11),在所述紫外物镜(11)的后面与所述可见光摄像系统(4)之间设置一个分光镜(12);利用分光镜(12)将除紫外波段以外的光谱辐射成像光束反射至可见光摄像系统(4)。

4、如权利要求1所述的电路放电检测装置,其特征是:在可见光摄像系统(4)上设置可见像增强器(13)。

5、如权利要求1所述的电路放电检测装置,其特征是:在所述电路放电检测装置中,还包括一组热成像系统(15),所述热成像系统(15)位于图像融合处理系统(6)的前面;所述热成像系统(15)获取的被测电路热辐射强度分布图(16)与紫外成像系统获取的放电火花图像(8)、可见光成像系统获取的被测电路的实体图像(5)一同输入到图像融合处理系统(6),由图像融合处理系统(6)对上述放电火花图像(8)、被测电路的实体图像(5)及被测电路热辐射强度分布图(16)的数据进行处理与融合计算,获得包含了标识出放电火花图像(8)及其位置与被测电路温度分布梯度的被测电路图像(17)。

6、一种电路放电检测装置,包括紫外辐射成像系统、可见光成像系统和图像融合处理系统(6),其特征是:所述紫外辐射成像系统包括紫外物镜(11)、位于紫外物镜(11)后面的紫外像增强器(10)及图像采集系统(9);紫外物镜(11)捕获放电火花(1)所发出的紫外辐射,经紫外像增强器(10)增强后,由图像采集系统(9)产生并输出放电火花图像(8);

所述可见光成像系统包括所述紫外物镜(11)和位于紫外物镜(11)的后面可见光摄像系统(4);在所述紫外物镜(11)的后面与所述可见光摄像系统(4)之间设置一个分光镜(12);利用分光镜(12)将除紫外波段以外的光谱辐射成像光束反射至可见光摄像系统(4);所述紫外物镜(11)捕获被测电路(2)的图像,经可见光摄像系统(4)产生并输出被测电路的实体图像(5)。

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