[实用新型]一种平面平行度的检测装置无效

专利信息
申请号: 200820212932.2 申请日: 2008-10-10
公开(公告)号: CN201297929Y 公开(公告)日: 2009-08-26
发明(设计)人: 李绍炎 申请(专利权)人: 深圳职业技术学院
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 代理人: 刘文求
地址: 5180*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 平面 平行 检测 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测装置,尤其涉及的是一种检测到平面平行度的检测装置。

背景技术

平行度是指两平面或者两直线平行的程度。通常的检测手段有打表法和漏光检测法,以下以检测凸焊设备中上下电极的工作面为例作简要分析。

打表法是将带百分表的磁力表座放置在下电极所在的精加工工作台面上,使百分表表头与下电极端面接触,移动磁力表座使百分表表头在下电极端面上滑动,观察百分表指针跳动情况,检测结果(百分表指针最大跳动值)为下电极端面与工作台面之间的平行度误差。然后再对上电极端面进行同样的检测,检测上电极端面与工作台面之间的平行度误差,上述两个误差之和就是上下电极端面之间的平行度误差,如果上述两个误差之和在规定的范围内则说明上下电极端面之间的平行度误差符合要求。这种检测方法由于电极端面尺寸小、需要移动磁力表座等原因,一方面检测费时、麻烦,另一方面检测精度也不佳。

漏光法检测是在没有放入工件的情况下,手动操作机器,降低上电极使上电极端面压紧下电极,在电极接触面的后方一侧放置灯光,从电极的前方观察从电极接触面泄露过来的光线多少,由此直观判断电极接触面之间的缝隙大小。这也是一种直观的目测方法,检测结果较粗糙,用于高精度的平面时,效果不明显。

在焊接生产开始或生产中,要确认上下电极工作面之间的平行度是否符合技术要求,但因为电极的尺寸通常较小,采用检测仪表来进行上述检测是非常困难的。

因此,现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种平面平行度的检测装置,该平面平行度的检测装置能够提高检测效率。

本实用新型的技术方案如下:

一种平面平行度的检测装置,包括平行设置在两被测平面间的颗粒层和显示层,所述颗粒层上具有易粘附颗粒,所述显示层用于在所述两被测平面压紧时粘附所述颗粒形成反映其平行度的印记。

所述的装置,其中,所述颗粒层是复写纸。

所述的装置,其中,所述复写纸是单层复写纸。

所述的装置,其中,所述颗粒层是附着在所述被测平面上的墨水。

所述的装置,其中,所述显示层是纸。

所述的装置,其中,所述颗粒的粒度小于0.02毫米。

本实用新型所提供的平面平行度的检测装置,由于采用了具有易粘附颗粒的颗粒层,以及用于粘附所述颗粒形成反映两被测平面平行度印记的显示层;本实用新型的检测装置可以在较短的时间之内对两被测平面之间的平行状态进行检测确认,较之传统的仪表检测,大大提高了检测效率。

附图说明

图1是本实用新型在环缝精密凸焊的实施方式中的结构示意图;

图2是图1中的A部结构的放大示意图;

图3是本实用新型一种实施方式中检测时的结构示意图;

图4是图3中的B部结构的放大示意图;

图5是本实用新型在环缝精密凸焊中检测的一种不合格印记;

图6是本实用新型在环缝精密凸焊中检测的合格印记。

具体实施方式

本实用新型提供的平面平行度检测装置,是一种非常容易实施的检测装置,其主要包括:具有易粘附颗粒111的颗粒层110,以及用于粘附所述颗粒111形成反映两被测平面平行度印记的显示层120;本实用新型较之传统的仪表检测,大大提高了检测效率。

本实施方式仍以检测凸焊设备中上下电极的工作面为例,对本实用新型进行说明。

本实用新型主要包括颗粒层110和显示层120,见图2。颗粒层110具有易粘附颗粒111,该颗粒层110可采用复写纸,优选为单面复写纸;颗粒层110还可以采用附着在所述被测平面上的油墨、墨水等;颗粒111的粒度越小检测效果越明晰,应用在本实施方式的上下电极时,优选为0.02毫米。显示层120平行于颗粒层110并与颗粒层110一起设置于被测平面之间,用于在所述两被测平面靠拢压紧时粘附所述颗粒111,形成反映其平行度的印记;显示层120优选为纸,纸的厚度以薄为佳,以形成清晰印记为优,在实践时可根据被测平面的面积、平行度要求、颗粒111的粒度等因素而定,其颜色应能够与所述颗粒111的颜色形成明显对比。

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