[实用新型]可供待测物定位的基板及具有该基板的检测设备有效

专利信息
申请号: 200820212411.7 申请日: 2008-10-08
公开(公告)号: CN201311348Y 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: 胡咏家;翁秉玮 申请(专利权)人: 中茂电子(深圳)有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 广东国晖律师事务所 代理人: 欧阳启明
地址: 518054广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 可供待测物 定位 具有 检测 设备
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测设备的基板,特别涉及一种具有可供待测物定位的基板及具有该基板的检测设备。

背景技术

利用软性印刷电路板(Flexible Printing Circuit Board,FPCB)上排列设置复数发光二极管(Light-Emitting Diode,LED)晶粒而成的光棒(Light-Bar)做为显示器背光板的光源,以取代传统的冷阴极灯管(CCFL),已普遍为业界、使用者认同。此外,由于显示器制作日趋轻薄,所以显示器内部的电子零部件必须跟着微型化,原本光棒上所布设的发光二极管就多达数十颗,在软性印刷电路板的提供相对应电讯号的线路布局已经被局限在有限的空间之中,如今跟着微型化的趋势,线路就更显精密。但,受限于制造过程中尚无可避免的公差及发光二极管之发光特性,其个别色度、与亮度(Brightness)或光强度(LuminousIntensity)均需要被精确测量。

为了确保光棒的质量,业界通常由外部光学装置测量发光二极管、光棒的特性及优劣,测试项目可能包括:亮度、色度、光均匀性等等,藉此淘汰不良品来提升出货产品良率。其中一种现行实务上的做法是将光棒依序放在具有导槽的基板上,再将基板放入检测机台上,依序将每一条光棒的连接端子插入检测机台上的端子座,最后透过端子座提供电信号,使光棒上的发光二极管点亮,以进行后续的测试项目。

然而,如上所述,软性电路板上的线路随着微型化更为精密,且光棒均呈现细长条状,故每一条的光棒自然不会服贴的被平置在基板的导槽内,将呈现弯曲、高低等现象,使部分发光二极管无法符合规范内的检测距离。另外,现行测试前,基板必须在检测机台外将光棒逐一放入导槽中,再依序将每一条光棒的连接端子插入检测机台上的端子座以对待测光棒进行供电,所以必须使检测机台停止检测,耗时较多。

因此,现有的技术方案存在如下的缺陷:1.更换待测物进行测试时,每一次均需要长时间停止检测机台的运作,效率不高;2.检测误判机率高;3.无法全面提升检测速度。

因此,若需要一种技术方案,可让待测物检测距离在误差范围之内,并可迅速对每一条待测光棒进行定位测试。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有可供待测物定位的基板及具有该基板的检测设备,旨在解决对基板内待测物精确定位,提升测试效率的问题。

本实用新型是这样实现的,一种可供待测物定位的基板,所述基板上设置有复数导槽,所述导槽底部包括至少一个供气压导通的、在检测时将待测物吸附在所述导槽内的通孔,所述基板上还设置有一组供待测物连接、为待测物提供电信号的端子组。

所述基板还设置有第一组定位组件,所述第一组定位组件设置在所述导槽前端,与所导槽形成一限位而固定待测物。

所述基板上还设置有第二组定位组件,所述第二组定位组件设置在所述各导槽后端位置以压抵待测物,以避免干扰检测结果。

所述基板还包括有一供电信号输入之输入/输出埠位。

本实用新型还提供了一种检测设备,所述检测设备包括基板、机台、气压变换装置和供电装置,其中:

所述基板装载在所述机台上;

所述基板包括至少一个供待测物置放的导槽,所述导槽底部包括至少一个供气压导通的、在检测时将待测物吸附在所述导槽内的通孔;

在检测时提供吸附所述待测物气压的气压变换装置与所述通孔连通;

所述供电装置在所述基板放置于所述检测设备上时直接给通过所述基板给待测物供电。

所述基板还设置有第一组定位组件,所述第一组定位组件设置在所述导槽前端,与所导槽形成一限位而固定待测物。

所述基板上还设置有第二组定位组件,所述第二组定位组件设置在所述各导槽后端位置以压抵待测物,以避免干扰检测结果。

所述气压变换装置与所述通孔之间设置一防止所述气压变换装置向所述通孔提供的真空气源泄露的防泄垫片。

所述基板进一步包括有一供电信号输入之输入/输出埠位,所述检测设备的供电装置通过所述输入/输出埠位向待测物提供电信号。

本实用新型克服现有技术的不足,在一基板上设有至少一导槽,导槽底部具有复数可供连通到一气压变换装置的通孔,使待测物在检测时可以更紧密的被吸附在导槽内接受检测。本实用新型提供的技术方案,可以解决检测待测物时定位精准的问题,通过基板上具有吸附力的导槽可迅速对每一条待测光棒测试,有助于提升测试速度。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的可供待测物定位基板的结构图;

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