[实用新型]音叉晶体测试装置有效
| 申请号: | 200820191771.3 | 申请日: | 2008-10-22 |
| 公开(公告)号: | CN201278002Y | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
| 发明(设计)人: | 喻信东 | 申请(专利权)人: | 喻信东 |
| 主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R31/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 441300湖北省随州市曾都*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 音叉 晶体 测试 装置 | ||
1、音叉晶体测试装置,其特征是是由分档料盒(1)、面板(12)和测试座(8)组成;分档料盒(1)通过引线(3)与面板(12)上的单片机(10)相连,分档料盒(1)上的每一格都装有指示灯(2);测试座(8)通过引线(9)与面板(12)上的单片机(10)相连;面板(12)上装有阻抗调节旋钮(6)、频率调节旋钮(7)、键盘操作板(11)、阻抗/档位切换显示屏(4)、频率/产量切换显示屏(5)、单片机(10);阻抗调节旋钮(6)、频率调节旋钮(7)、键盘操作板(11)、阻抗/档位切换显示屏(4)、频率/产量切换显示屏(5)、通过引线与单片机(10)相连。
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