[实用新型]一种自动测量加工工件厚度的装置无效
申请号: | 200820186902.9 | 申请日: | 2008-09-16 |
公开(公告)号: | CN201279844Y | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 唐伏良 | 申请(专利权)人: | 杨建良 |
主分类号: | B28D5/00 | 分类号: | B28D5/00 |
代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) | 代理人: | 刘瑞平 |
地址: | 214006江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自动 测量 加工 工件 厚度 装置 | ||
(一)技术领域
本实用新型涉及数控机床自动化领域,具体为一种自动测量加工工件厚度的装置。
(二)背景技术
现有数控机床,对块状硅锭在磨削前厚度都没有一个精确的测量,这样难以确定控制数控机床(X轴)进给量,导致磨削次数难以确定,甚至因磨削量不确定而导致硅锭报废,致使块状硅锭磨削加工成本提高。
(三)发明内容
针对上述问题,本实用新型提供了一种自动测量加工工件厚度的装置,其在块状硅锭磨削前后都能对块状硅锭的厚度有一个精确的测量,通过计算达到控制进给量的目的,从而控制其磨削量,降低成本。
其技术方案是:其特征在于:其包括立柱、测量仪盒、CCD激光位移传感器,所述两个立柱分别安装于所述床身两侧,所述测量仪盒通过连接板安装于所述立柱,所述CCD激光位移传感器安装于所述测量仪盒。
本实用新型的上述结构中,测量仪盒里安装了CCD激光位移传感器,传感器瞄准块状硅锭的两个侧面,当被压紧装置压牢在台面上的块状硅锭,通过台面运动到CCD激光位移传感器的测量范围内,测量发出的激光通过块状硅锭的反射原理,测量出实际的块状硅锭的厚度,再通过计算机数据处理,从而获得准确的数值,通过计算达到控制进给量的目的,从而控制其磨削量,降低成本。
(四)附图说明
图1为本实用新型主视的示意图;图2为本实用新型左视的结构示意图。
(五)具体实施方式
见图1、图2,本实用新型包括两个立柱1、连接板2、测量仪盒3、CCD激光位移传感器4,两个立柱1分别安装于床身两侧,测量仪盒3通过连接板2固定在立柱1上部,CCD激光位移传感器4安装于测量仪盒3。5为激光光束。本实用新型中CCD激光位移传感器属市场已有产品。
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