[实用新型]螺帽内螺牙的检测装置

说明书

技术领域

本实用新型关于一种螺帽内螺牙的检测装置，尤指一种利用透镜的折射原理进行螺帽内螺牙检测的装置，以期增进内螺牙的检测精准度，并提高螺帽制造厂商的出货品质。

背景技术

目前较常见的螺帽的内螺牙检测方法为接触式检测，所述检测方式是由品管检查员在每桶螺帽成品中抽样10～15个螺帽，再将所述这些螺帽分别锁合至一检测治具后，确认各所述螺帽是否为斜牙，在转出各所述螺帽后，品管检查员以仪器或肉眼查验各所述螺帽是否有断牙、牙伤、多料或生锈等缺陷。上述检测方式大约需耗时20分钟，不仅相当缺乏效率，更可能因检查员的疏忽怠惰，而发生检测错误等情事，此外，上述检测方式无法确实地将欲出货的螺帽做全面性的快速检测，因此，若仅依上述方式进行螺帽的抽测，制造厂商则相当不易提升螺帽的出货品质。

有鉴于上述接触式检测的诸多缺失，目前制造厂商常采用的检测方式为非接触式检测，以期避免接触式检测的缺点。例如日本公开的特开2006-71303号专利，揭露一种内螺牙的检测装置，参阅图1所示，所述检测装置1包括一激光感应器10、一升降机构11及一判断单元12，所述激光感应器10装设在所述升降机构11上，以通过所述升降机构11进行上下方向的位移，又，所述激光感应器10由一发光单元101及一检测单元102所构成，所述发光单元101能发出单束的激光光线103至一待检测的螺帽13的内螺牙上，由于所述激光感应器10能通过所述升降机构11上下移动，故所述发光单元101所发出的激光光线103即能照射到不同深度的内螺牙，以沿内螺牙的纵深方向进行检测。所述检测单元102用以接收内螺牙所反射的激光光线104，在所述发光单元101发出的激光光线103照射到内螺牙后，即被内螺牙所反射，并射向所述检测单元102，而所述判断单元12透过所述检测单元102，对所述检测单元102所接收的激光光线104的强度，进行分析。

承上，参阅图1、图2所示，当上述激光光线103所照射到的位置为内螺牙的侧边平面部分131时，如图2的光线路径a所示，反射率最大(反射至所述检测单元102的激光光线104与激光光线103的强度比率)，故所述检测单元102所接收到的激光光线104强度最强；另，当激光光线103照射到内螺牙的螺牙顶132时(光线路径b)，反射率最小，故所述检测单元102所接收到的激光光线104强度最弱。因此，当所述检测装置1对一正常的螺帽的内螺牙进行检测时，所述激光感应器10随所述升降机构11上下移动，使得所述激光光线103的照射位置沿内螺牙的纵深方向移动，如此，所述判断单元12所取得的光线强度与时间关系图，将呈现如图3所示的波形变化。反之，若所述检测装置1所检测的螺帽的内螺牙具有缺陷时，所得到的光线强度与时间关系图将如图4所示。故所述判断单元12即可通过上述关系图，判断一螺帽的内螺牙是否具有缺陷。

然而，通过上述检测装置1，虽能有效改善接触式检测的诸多问题，惟上述激光光线103每次所扫视的范围，大约仅为六分之一～十分之一圈的内螺牙，因此，若欲对螺帽的内螺牙进行全面检测，则不得不利用六～十台所述检测装置，方能彻底地检查整圈内螺牙。如此，不仅增加螺帽检测的成本，更提高检测的失误机率。再者，由于上述检测装置1的检测速度十分缓慢，无法于短时间内检测大量的螺帽，故制造厂商仍仅能以抽验的方式做检测，如此，将无法有效提升螺帽的出货品质。在此需特别一提，倘若螺帽的口径较小(例如：M5以下)，则上述检测装置1所发出的激光光线，将无法确实地照射到内螺牙，换言之，所述检测装置1亦无法接收到由内螺牙所反射的激光光线。

因此，如何改善螺帽检测装置的结构，以增进螺帽的内螺牙的检测效率，并减少检测错误的发生机率，有效提升螺帽的出货品质，使出厂的螺帽符合精密工业(如：汽车业、航太业等)的高标准，据以确保产品的安全性，即成为本实用新型在此欲探讨的一重要课题。

实用新型内容

有鉴于已知检测装置的诸多缺失，创作人乃依多年的实务经验，并经过长久的努力研究与实验，终于研发出本实用新型的一种螺帽内螺牙的检测装置。