[实用新型]用于检测的阵列式凸块

说明书

技术领域

本实用新型涉及机电类，特别涉及一种用于检测的阵列式凸块。

背景技术

众所周知，在常用检测液晶显示面板(LCD)的测试技术中，显示面板在进行电性测试时，利用弹性金属类的探针作为待测显示面板与测试机台间的测试信号媒介，藉此以通过弹性金属探针来输入信号电压到每一显示面板中连接IC的电极，以使显示面板得以被驱动，再通过测试机台的电脑分析后，将显示结果予以识别出该显示面板内的电路连通性。

但是由于液晶显示面板中的电极相当薄且脆弱，而这类的弹性金属探针的测试端呈尖锐状，使得在测试过程中，测试者必须格外小心，以防弹性金属探针刮伤液晶显示面板的电极，否则便会破坏待测液晶显示面板的电性而降低良品率；再者，由于弹性金属探针的形状呈一倒角弯折状，故十分容易因某根弹性金属探针的翘起而未能完全接触到液晶显示面板的电极，进而造成某部份的电极未受到测试，忽略了该显示面板的不良性，导致有瑕疵的显示面板依然可顺利出厂。

另一方面，随着液晶显示面板小型化及功能增加，使得液晶显示面板的电极密集化，常用技术制作的弹性金属探针也趋细微，除了脆弱易弯、易断裂外，也无法将测试弹性金属探针的排置密度做相对性的提高，因而造成检测模具上制作的困难，且其成本也相对提高许多，需要加以改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于检测的阵列式凸块，解决了常用的弹性金属类的探针检测显示面板时存在的检测效果不佳，检测模具制作困难及成本高等问题。

本实用新型的技术方案是：包括绝缘基片；数个导电线路层，设置在绝缘基片上，各导电线路层一端对应待测显示器的位置上，设有复数个接触凸点，各接触凸点依待测显示器的电极数量及密度而设置，可供连接待测显示器的各电极；各导电线路层另一端对应测试模具的位置上，设有与复数个接触凸点相接的复数个导接垫片，供连接测试模具的电路，接触凸点藉由导电线路层的线路图样的布线传导，而与导接垫片电性连接；使用时，可将绝缘基片安装在测试模具的凹槽上，使导接垫片穿过测试模具所设的开槽，与测试模具下方电路板的电路电性连接，令待测显示器被安装在测试模具的凹槽上进行测试时，利用压靠方式使各接触凸点可接触连接待测显示器的各电极，使待测显示器藉由绝缘基片而与测试模具所设的信号输出/输入端形成电连接，而能对待测显示器进行测试；

其中，绝缘基片为可挠性的塑胶薄片材质或可挠性的橡胶薄片材质制成；

导电线路层的线路图样由弹性导电材质，利用微影蚀刻方式制成；

接触凸点为金属导电凸点；

金属为铜、金、银、铝、铁或镍；

接触凸点为圆形导电凸点，各导电凸点与导电线路层的布线相接。

本实用新型的优点在于：结构简单，制作容易，使用寿命长，检测精度高，实用性强。

附图说明：

图1为本实用新型的平面示意图；

图2为本实用新型与测试模具的立体示意图；

图3为本实用新型与测试模具的剖视示意图；

图4为本实用新型用于检测的阵列式凸块的部份放大示意图。

具体实施方式：

如附图1至附图3所示，本实用新型用于检测的阵列式凸块1设有绝缘基片11，绝缘基片11上设置有数个导电线路层12a、12b、12c，各个导电线路层12a、12b、12c一端对应待测显示器3的位置上，设有复数个接触凸点121a、121b、121c，该等接触凸点121a、121b、121c依待测显示器3的电极数量及密度而设置，其可供连接待测显示器3的各电极；各导电线路层12a、12b、12c另一端对应测试模具2的位置上，设有与复数个接触凸点121a、121b、121c相接的复数个导接垫片122a、122b、122c，供连接测试模具2的电路，令接触凸点121a、121b、121c藉由导电线路层12a、12b、12c的线路图样的布线传导，而与导接垫片122a、122b、122c电性连接。

如附图2及附图3所示，使用时，可将绝缘基片11安装在测试模具2的凹槽21上，使导接垫片122a、122b、122c穿过测试模具2所设的开槽22，与测试模具2下方电路板23的电路电性连接，令待测显示器3被安装在测试模具2的凹槽21上进行测试时，利用压靠方式使各接触凸点121a、121b、121c可接触连接待测显示器3的各电极，使待测显示器3藉由绝缘基片11而与测试模具2所设的信号输出/输入端24形成电连接，而能对待测显示器3进行测试。