[实用新型]存储卡检测治具装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种量测治具，尤指一种适用于量测芯片其存储卡检测治具装置。

背景技术

请参阅图1，其是本实用新型现有的立体图。如图所示，现有的存储卡检测治具装置9置放于一量测平台3的一量测平面31上，一粗糙度测试仪4架设于量测平台3上，粗糙度测试仪4包括一测试头41，其中，测试头41是平行于量测平台3的量测平面31。

请同时参阅图1、及图2，图2是本实用新型存储卡的局部放大图。如图所示，固定于量测治具9上的是一微型存储卡91(Micro SD card)，微型存储卡91上包括有一待测面912，待测面912是量测的重点，此待测面912上的表面粗糙度数值是具指标性的重要参数，其中，待测面912上表面粗糙度的良劣与否悠关微型存储卡91是否符合品管的求要，进而取决是否能进入市面销售。

举例而言，如果待测面912上的表面粗糙度太高，可能会刮伤使用者的手指，而使消费者对微型存储卡91造成负面印象，而影响市场对微型存储卡91的接受度。

因此，要如何有效地测试待测面912成为一重要课题，又因微型存储卡91的上表面911与待测面912夹有一特定角度θ，由于现有的量测治具9是以双面胶92将微型存储卡91粘固于量测治具9上，其不易于调整待测面912的特定角度θ使其与待测面912与测试头41平行，以利量测。因此，其替代方式是测量与测试头41平行的微型存储卡91其上端面913的粗糙度数值，并将量得的数值类推为待测面912的表面粗糙度，因为其量测结果并非为待测面912真实的表面粗糙度数值，而易于引起争议。

实用新型内容

本实用新型的目的是，提供一种存储卡检测治具装置，包括：一个底板、至少一个定位架(locating bracket)、一个调整治具(adjustablefixture)。

底板包括有二个枢轴座，每一个枢轴座上开设有一个枢孔，二个枢孔彼此同轴设置并遥遥相对。至少一个定位架固设于底板上，至少一个定位架包括有一个第一定位件，至少一个定位架邻设于每一个枢轴座的侧边。

一个调整治具(adjustable fixture)包括有二个侧边、二个枢梢、及一个插槽，二个枢梢分别同轴凸设于二个侧边的下缘处，二个枢梢分别对应枢接于底板的二个枢孔内，促使调整治具能依二个枢梢为轴而旋转，二个侧边至少其一的上缘设有一个第二定位件，调整治具是透过第二定位件可拆式地(detachable)连结固定于至少一个定位架的第一定位件予以定位，插槽是延伸于二个侧边的上缘之间。

因此，存储卡检测治具装置上的调整治具可相对于底板调整并定位于任一角度，而使存储卡上的不同角度的待测面均能平行于粗糙度测试仪的测试头，以利进行测试工作。

此外，至少一个定位架可包括有一个弧形导槽，至少一个定位架上标记有多个刻度，至少一个定位架可包括有多个插孔。

再者，调整治具可包括一个主板、一个盖板、及多个螺丝，主板包括有一个浅槽、及多个螺孔，盖板包括多个贯孔，多个螺丝对应穿经多个贯孔并螺锁于多个螺孔内，以将盖板锁固于主板上，主板的浅槽与盖板之间夹合形成插槽。

调整治具的第二定位件可指一个螺丝孔，至少一个定位架的第一定位件可指一个锁紧螺栓，锁紧螺栓对应锁固于螺丝孔内，以便将调整治具固定于定位架上。调整治具的第二定位件是指一个定位孔，至少一个定位架的第一定位件是指一活动插梢，活动插梢对应插固于定位孔内。调整治具的第二定位件可指调整治具的上缘，定位架的第一定位件可指多个卡止件。

调整治具的插槽可包括有一均匀深度，调整治具的插槽可包括有另一深度。

本实用新型的有益效果是，所提供的存储卡检测治具装置，能够有效地测试待测面。

附图说明

图1是本实用新型现有的立体图；

图2是本实用新型存储卡的局部放大图；

图3是本实用新型第一较佳实施例的立体图；

图4是本实用新型第一较佳实施例的分解图；

图5是本实用新型第二较佳实施例的立体图；

图6是本实用新型第三较佳实施例的分解图；

图7是本实用新型第四较佳实施例的分解图。

【主要组件符号说明】

存储卡检测治具装置1，9         底板11          枢轴座12

枢孔121                    定位架13，6，7      弧形导槽131

刻度132                    调整治具14，5       侧边140