[实用新型]母板有效
申请号: | 200820124500.6 | 申请日: | 2008-12-12 |
公开(公告)号: | CN201298124Y | 公开(公告)日: | 2009-08-26 |
发明(设计)人: | 郭建;明星;周伟峰 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333;G01N21/958 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘 芳 |
地址: | 100176北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 母板 | ||
技术领域
本实用新型涉及液晶显示器制造领域,尤其涉及一种母板。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display;以下简称:TFT-LCD)因其体积小、功耗低、无辐射等特点,占据了现有平板显示器市场的主导地位。TFT-LCD器件是由阵列玻璃基板和彩膜玻璃基板对盒而形成的。在TFT LCD的生产过程中,玻璃基板由于应力不均匀或者碰撞引起的裂痕和破损一直是生产中比较严重的问题,而且该种不良主要产生于搬运过程中或者设备内。一旦玻璃基板破碎,所产生的碎屑、灰尘等会对设备造成很大的影响,需要动用大量的人力物力进行清理,严重的情况下甚至会引起设备损伤,例如阵列检测(array test)阶段就容易因为玻璃基板的破损而损伤检测装置(modulator)。为了保证用于制作液晶面板的玻璃基板是无损伤的,因此要对所用玻璃基板进行损伤检测。
目前,对玻璃基板的破损检测大多采用接触检测的方式,具体为在玻璃基板平面的周边沉积一圈不闭合导电线图形,检测时通过电信号发生装置的触头对该导线两端施加探测信号,进而检测玻璃基板的损伤情况。现有检测方式的缺点是需要具有能够提供电信号的检测设备来进行检测,不但限制了检测的位置和工序,具有较大的局限性,而且不能达到实时监控的目的。
实用新型内容
本实用新型提供一种母板,用以解决现有技术采用接触检测的方式对玻璃基板进行破损检测过程中,局限性大且不能实时检测的缺陷,实现采用非接触的方式对玻璃基板进行破损检测。
本实用新型提供一种母板,包括透明基板,沿所述透明基板的边缘表面设置有用于为光线提供传输通道的导光通道,所述导光通道的输入端和输出端相互临近。
本实用新型提供的用于制造阵列基板和彩膜基板的母板中,通过设置能够为光线提供传输通道的非闭合的导光通道,利用光线对母板进行破损检测。基于此种母板结构,进行破损检测时可以通过光照的非接触方式进行检测,不但提高了检测的灵活性,而且避免了在母板上进行图形形成过程中造成的检测不能;还可以在后续图形形成过程的任意工序中进行破损检测,增强了检测的实时性,进一步保证基板质量,提高成品率。
附图说明
图1为本实用新型母板实施例结构示意图;
图2为本实用新型母板实施例的结构侧视图;
图3为本实用新型母板另一实施例的结构侧视图;
图4为本实用新型母板破损检测第一实施例示意图;
图5为本实用新型母板的导光通道中光线的全反射示意图;
图6为本实用新型母板破损检测第二实施例示意图;
图7为本实用新型母板再一实施例的结构侧视图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例进一步说明本实用新型实施例的技术方案。
图1为本实用新型母板实施例结构示意图,如图1所示,该母板包括透明基板,所述透明基板可以为用于制造阵列基板和彩膜基板所用的玻璃基板或石英基板,本实用新型中各实施例均以玻璃基板为例进行说明。如图1所示在玻璃基板1的边缘表面位置处设置有导光通道2,所述的玻璃基板1的边缘表面位置即是指沿玻璃基板1的四周且靠近边缘位置,由于玻璃基板发生破损绝大多数情况是发生在基板边缘,因此本实施例中要将用于检测玻璃基板破损状态的导光通道设置在靠近玻璃基板的边缘位置,而且该种设置不会影响到后续玻璃基板上图形的设置,并且有利于后续进行切割。导光通道2具有输入端21和输出端22,且输入端21和输出端22彼此临近,由此可知,导光通道是非闭合的通道,即输入端21和输出端22不相互连接,探测光线从输入端21入射,经过为光线提供传输通道的导光通道2后,最后从输出端22射出,不会形成回路,为破损检测提供检测依据。在玻璃基板上设置导光通道具体地可以为,玻璃基板的结构和工艺条件都和普通制作流程相同,只是在所有工序之前,在玻璃基板1外围没有设计图形的位置上,形成一圈非闭合的导光通道2。导光通道2环绕玻璃基板1一周,其输入端21和输出端22彼此之间十分接近,这样既便于光信号的发送和接收,又可以保证对整个玻璃基板的探测。
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