[实用新型]可调角度的滑道式存储卡测试写入装置

说明书

技术领域

本实用新型为一种存储卡测试、写入(测、写)装置的技术领域，尤其指一种采用倾斜式滑道的设计，配合相关的机械结构，让装置能进行存储卡的自动化测、写作业。

背景技术

一般闪存卡(例如SD卡、mini SD卡、MMC卡...等)在厂商出货前，须至少通过二道的测试作业。第一道为开卡测试，确认存储卡是否为良品。第二道为读写测试，测试存储卡是否能正常作业。现有的测试作业包括开卡测试与读写测试皆是采用手动模式，测试机器为多个台与计算机联机的治具及设备。测试流程依序为：以人工确认测试物数量、设定测试参数、连接测试治具、将测试物放置于测试治具处、进行开卡(或读写测试)、以及依测试结果区分良品与不良品。上述每道流程皆为人工手动模式，故须大量人员操作，同时也须大量测试治具及设备。因此以人工测试作业的工厂，常见的情形工厂内具有大量的测试设备及大量的测试人员。

基于上述原因，部份厂商即开始研发自动化的测试机台。自动化测试机台通常包括一供料装置，负责容纳待测存储卡的料盘。一取放装置，负责取放待测/完测的存储卡。一测试装置，负责测试存储卡。多组载送装置，负责于供料装置与测试装置间载送待测/完测的存储卡。一收料装置负责容纳完测的存储卡的料盘。此类的自动化测试机台一次能测试的存储卡数目越多，机器的体积就越大。再者该自动化测试机台须具有多组载送装置负责将存储卡由供料装置移出、送至测试装置处，或者将测试完成的存储卡由测试装置再送回收料装置处，如此繁复的操作流程，须配合数目众多的机器、传感器及复杂的电控系统，使得自动化测试机台的造价相当昂贵。

因此本实用新型人即思考如何设计一组体积小结构简单、节省能源又确实稳定的测、写装置，主要负责进行存储卡的测、写自动化作业。将存储卡由自动供料模块移动至测试区，进行测、写的动作，及测、写后良品及不良品的退出动作皆不以繁复的机构辅助，如此能以较简单的机械设备完成存储卡的测试读写。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提供一种具有可调角度的滑道式存储卡测、写装置，主要是设计一组测试及写入装置能以简易的机械系统，进行自动化存储卡的测试写入作业。主要是利用一组具有角度的滑道，让存储卡能自动滑至测试区，待测试完成后再滑出滑道而被收集，如此能减少负责移载存储卡的机构件数量及复杂度。另外本实用新型一贯化的测试作业，与现有人工操作的测试作业或与市售自动测试机台相较，能使测试效率大幅提升且人员成本大幅降低。

本实用新型的次要目的是提供一种体积小、成本低的测、写装置，该测、写装置一次能进行至少8个存储卡且连续性的测、写作业，让存储卡测、写效率有效提升。另外整体的体积小，在有限的工厂空间内能放置更多数量的测、写装置，使得摆设机动性提高，场地成本相对降低。另外机器造价低，为市售自动化测试装置的十分的一或更少，对测、写厂商设备投资的资金相对减少，因此更具市场竞争力。

为达上述的目的，本实用新型主要包括一滑道模块、一自动供料模块、一探针及顺序押板模块，一成品分辨模块。该滑道模块包括一模板单元，一可调式支撑杆以及一机架，该模板呈一倾斜角度，以可调式支撑杆及绞链设置于机架处，该模板单元的上表面具有多道滑道，每个滑道皆可供待测、写存储卡滑动，模板上端具有自动供料模块，可将存储卡推入滑道中。该探针及顺序押板模块并排横向跨设于前述滑道平台的上方位置，具有多组弹簧探针的探针装置板，能适时下降与待测存储卡电极相接触，进行相关的测、写作业；于弹簧探针后设有存储卡辅助固定杆以加强存储卡的稳定。各探针前下方滑道内适当位置装设电磁铁凸杆，能适时作动使模板单元的多个滑道内存储卡能将存储卡定位阻挡或流放。

滑道板尾端设有成品分辨模块，不良品得以因翻板翻起而掉落于不良品收集盒内，良品则顺由滑道流入良品料管内。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型的具有可调角度的滑道式存储卡测、写装置，与现有人工操作的测试作业或与市售自动测试机台相较，能使测试效率大幅提升且人员成本大幅降低。另外整体的体积小，在有限的工厂空间内能放置更多数量的测、写装置，使得摆设机动性提高，场地成本相对降低。另外机器造价低，为市售自动化测试装置的十分的一或更少，对测、写厂商设备投资的资金相对减少，因此更具市场竞争力。

附图说明

为使熟悉该项技术人士了解本实用新型的目的、特征及功效，以下由下述具体实施例，并配合附图，对本实用新型详加说明如后，其中：

图1为本实用新型的立体图；

图2为本实用新型的侧视图；