[实用新型]一种用于光路调节的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及光学系统调节领域，特别涉及一种用于光路调节的装置。

背景技术

无论是几何光学实验还是物理光学实验，经常需要进行与共轴球面系统相关的光路调节。所谓的共轴球面系统包括至少一个诸如透镜这样的包含折射球面的光学系统。为了获得具有良好质量的像，共轴球面系统中各光学元件主光轴应处于同一直线上。

出于安全考虑，传统的调节方式一般不用人眼观察光路，并且某些激光非人眼可见，所以一般地是操作人员用手拿着探片(一种将非可见光转换成可见光的探测板，也称为感光板)探测光束是否通过光阑的小孔，从而判断是否达到准直。然而，这种方法存在的缺点是：1)探片同一点不能长时间接收激光照射，否则会出现饱和，光点渐渐消失。所以需要人手不停移动，变换光束在探片上的位置，而人手的抖动会造成判断不准。2)当需要对准准直光和发散光同轴时，需要沿光路方向移动探片并判断发散光的光斑空间位置，由于探片无法精确反映出光斑的信息(直径、空间的位置等)，使造成的误差较大。

还有一种利用CCD调节光路的传统方法，以下结合图1举例说明这种传统方法。图1为校准两氦氖激光器光路使之准直的示意图，包括氦氖激光器101、氦氖激光器102、小孔光阑103、小孔光阑104、漫射板105、CCD106和监视器107。漫射板105既可以反射光也可以透射光，所述氦氖激光器101照射到漫射板105上产生的漫反射光和氦氖激光器102照射到漫射板105上产生的漫透射光入射到CCD106，CCD106将光斑位置和大小的信息转化成电信号传送至监视器107显示。这种利用CCD调节光路的传统方法克服了使用探片带来的手抖造成的误差，但是由于测量仪器即CCD106的轴线与待测物即氦氖激光器101和102在漫射板105上形成的光斑的轴线不在同一直线上，这种离轴检测引入了所谓的“阿贝误差”，在校正发散光与准直光同轴时，此误差更大。

实用新型内容

本实用新型的目的克服上述现有技术中的缺陷，提供一种易操作且准确度高的用于光路调节的装置。

根据本实用新型的一个方面，提供一种用于光路调节的装置，包括：

激光器，其用于产生照射到光斑探测器上的激光光束；

光斑探测器，其用于接收所述激光光束并将接收到的所述激光光束信息转化为电信号发送给监视器；和

监视器，其与所述光斑探测器相连接，用于将所接收的电信号转化为图像。

其中，优选地包括一个激光器、一个光斑探测器和一个监视器，或者两个激光器、两个光斑探测器和一个监视器。

根据本实用新型的另一个方面，还包括小孔光阑，所述小孔光阑的孔直径至少比激光器光束直径大一个数量级，所述小孔光阑被放置在所述光斑探测器的前端并且其孔位于所述激光器光轴上。

其中，优选地，所述光斑探测器为CCD；所述光斑探测器、激光器和小孔光阑均连接有一个五维调整架，其均置于一光学滑轨上，以保证所述调整架可以沿所述光轴移动。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型为共轴测量，消除了离轴测量带来的阿贝误差，使调节精度尤其是对产生发散光束的光学元件的调节精度提高，此外使用本实用新型方法使操作更简单易行。

附图说明

下面结合附图对本实用新型做进一步说明。

图1为利用CCD调节光路的传统方法示意图；

图2为本实用新型装置在准直光路中校准的示意图；

图3为利用本实用新型装置调节LD与柱面透镜的组合在准直光路中的位置的示意图；

图4为利用本实用新型装置调节透镜在准直光路中的位置的示意图；

图5为利用本实用新型装置调节其他光学元件在准直光路中的位置的示意图。

具体实施方式