[实用新型]X射线准直器装置有效
| 申请号: | 200820098648.7 | 申请日: | 2008-06-24 |
| 公开(公告)号: | CN201237920Y | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
| 发明(设计)人: | 郑林;李迪凡;何长光;彭正坤 | 申请(专利权)人: | 西南技术工程研究所 |
| 主分类号: | G21K1/02 | 分类号: | G21K1/02;G01N23/00 |
| 代理公司: | 重庆弘旭专利代理有限责任公司 | 代理人: | 周韶红 |
| 地址: | 400039*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 射线 准直器 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种用于X射线测试分析仪器设备的准直器装置。
背景技术
在现有的X射线测试分析仪器设备中,所使用的两个准直器装置分别固定在X光源和探测器处,X光源先通过一个准直器装置的狭缝到达被测样品,然后由被测样品所产生的散射线再通过的另一个准直器装置的狭缝进入探测器进行相应的测试分析。该准直器装置通常由底座,插片架和1个以上的狭缝插片组成,底座经螺钉固定在仪器设备上,插片架与底座固定连接,狭缝插片插在插片架上,狭缝插片的两个插接侧面在插片架的插槽中由弹簧定位;每个狭缝插片的中部有一个一定宽度和高度矩形狭缝,在插片架上的几个狭缝插片的狭缝中心理论上是设计在一条直线上;用于波长较长的X射线辐射时,狭缝插片在狭缝处遮挡材料较薄,常使用0.1mm~0.2mm厚的钼片或钨片。
CN1588019A公开了一种“短波长X射线衍射测量装置和方法”,其中采用的狭缝插片在狭缝处的遮挡材料厚度大于或等于4mm,且几个狭缝处的遮挡材料总厚度不小于15mm,遮挡材料为铅或比铅吸收X射线更强的重金属;此外还采用了在整体圆柱形遮挡材料上开设直通的圆孔狭缝。
这种插片式的准直器装置结构的不足之处在于:狭缝插片在多次插、拔的使用中磨损和定位弹簧老化产生的强度变化后,狭缝插片定位不准,狭缝中心之间很难位于一条直线上,特别是较厚的遮挡材料的狭缝插片,其装配调整和更换困难,还容易导致产生半影区,对准直器的直通性影响较大,这直接影响X射线测试分析仪器设备的测试精度和测试效率,因此,对高精度测试,插片式结构不能满足测试要求;而在整体圆柱形遮挡材料上开设直通的圆孔狭缝对于直径较小的狭缝,如直径为0.1mm的狭缝,现有的加工工艺不能保证其圆弧面的光滑和狭缝的中心线为直线,同样要影响X射线测试分析仪器设备的测试精度和测试效率。
此外,现有的准直器装置的一个狭缝端面直接靠近X光源或探测器,导致X射线散射或散射的X射线进入探测器,影响测试分析的结果。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种狭缝定位准确,不产生半影区,狭缝精度高的用于X射线测试分析仪器设备的准直器装置。
本实用新型的目的是这样实现的:一种X射线准直器装置,包括底座,其特征在于:在所述底座上设置固定连接的狭缝主体,在所述狭缝主体内设置直通的狭缝。
上述狭缝可为矩形狭缝;所述狭缝主体由整体L型的上扣件和下扣件的内扣合面、外扣合面沿光路方向交错扣合,并经定位销和定位螺钉固定组成,其外形为正六面体,可为长方体或正方体;所述狭缝为所述上扣件和所述下扣件的内侧面和所述内扣合面之间围成的间隙。
上述上扣件和所述下扣件的所述内扣合面、所述外扣合面可为沿光路方向相互配合的凹凸形台阶面。
上述狭缝也可为圆孔狭缝,该圆孔狭缝为圆柱形或圆锥台形;所述狭缝主体由整体的矩形的上扣件和下扣件沿光路方向扣合,并经定位销和定位螺钉固定组成,其外形为正六面体,可为长方体或正方体;所述狭缝由分别在所述上扣件和所述下扣件的扣合面上对应设置的半圆弧面扣合而成。
上述上扣件和所述下扣件的扣合面也可为沿光路方向相互配合的凹凸形台阶面;通常为方便加工和保证凹凸形台阶面的配合,当圆孔狭缝的直径较小时,凹凸形台阶面的高度可大于圆孔狭缝的半径,反之亦然。
上述狭缝不管其形状相同与否,即矩形狭缝的高度、宽度相同与不同及圆孔狭缝的直径相同与不同,其中心线位于所述狭缝主体的同一位置为佳。
可在上述狭缝主体的一端部设置凸台,所述凸台由所述上扣件和所述下扣件的端部沿伸部分组成,且所述狭缝的一端口部位于所述凸台的端面上。
上述底座可包括底板,与所述底板上表面固定连接的两块侧板,两块所述侧板之间相对的两个内侧面与所述底板的上表面相垂直;在两块所述侧板上设置螺纹孔;在所述底板上位于两块所述侧板的外侧面处设置长条形的固定孔;所述狭缝主体的下表面与所述底板的上表面相接触,其一个侧面与一个所述侧板的内侧面相接触,而其另一个侧面经另一个所述侧板上的螺纹孔及紧固螺钉固定。
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