[实用新型]一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置无效

专利信息
申请号: 200820091504.9 申请日: 2008-01-02
公开(公告)号: CN201233367Y 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 闫培光;阮双琛;张敏;郭春雨;邢凤飞 申请(专利权)人: 深圳大学;闫培光;阮双琛;张敏;郭春雨;邢凤飞
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 深圳市智科友专利商标事务所 代理人: 曲家彬
地址: 518000广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 利用 光子 晶体 光纤 光谱 测量 装置
【权利要求书】:

1、一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置,包括激光发射源、光隔离器、二色镜、耦合物镜、测量光纤和光谱仪,在激光发射源发射的激光光路上依次设置光隔离器和二色镜,使激光通过光隔离器后以45度入射角入射到二色镜上,在激光经二色镜的反射光路上依次设置耦合物镜、测量光纤,测量光纤一端与耦合物镜相连,另一端连接样品,光谱仪设置在沿激光经二色镜的反射光路的反向延长线上,位于二色镜的后方,其特征在于:所述测量光纤空芯光子晶体光纤(E),该光纤中间为空芯层(1),同轴线径向设置有内空气孔阵列层(2)、在内空气孔阵列层(2)外设置有内圆环包层(3),在内圆环包层(3)外设置有外空气孔阵列层(4),外空气孔阵列层(4)设置有外圆环包层(5),外圆环包层(5)外设置有涂敷层(6),所述内空气孔阵列层(2)、内圆环包层(3)、外空气孔阵列层(4)和外圆环包层(5)都采用同一种材料,所述内圆环包层(3)的壁厚是内空气孔阵列层(2)和外空气孔阵列层(4)中空气孔壁厚的100倍以上。

2、根据权利要求1所述的一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置,其特征在于:在靠近空芯光子晶体光纤(E)装有样品的一端设置一凹面镜(F1),凹面镜(F1)凹面正对空芯光子晶体光纤(E)的端面。

3、根据权利要求1所述的一种利用空芯光子晶体光纤的光谱测量装置,其特征在于:在空芯光子晶体光纤(F2)装有样品的一端设置一平面镜(F2),平面镜(F2)正面紧靠空芯光子晶体光纤(E)的端面。

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