[实用新型]一种偏置电压产生装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电压产生装置，特别是指一种偏置电压产生装置。

背景技术

在集成电路芯片制造完成以后，通常要制作专门的测试电路板对芯片进行测试，而集成电路芯片通常具有若干个输入引脚，包括电压源、信号源、时钟源、偏置电压源等。现有测试电路板的偏置电压产生装置，如图1所示，主要包括一个可变电阻器R，将电源电压进行分压后加到测试电路板上。这种方案的主是缺点是：采用一个可变电阻器对电源进行分压，精度有限，该可变电阻器的总阻值固定不变，不可调。在同一块测试电路板上，对于不同输入阻抗的集成电路芯片来说，需要不同的偏置电压的输出电阻与之匹配，而图1所示的装置的偏置电压的输出电阻受到限制，影响了电阻的匹配，最终影响测试电路板对集成电路芯片的测试效果。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种偏置电压产生装置，该装置能够提高测试电路板为集成电路芯片提供的偏置电压的分压精度，并使得该偏置电压的输出电阻可调。

为解决上述技术问题，本实用新型的实施例提供一种偏置电压产生装置，包括：一个固定端子与电源输出端子连接的第一可变电阻器和一个固定端子与电源接地端子连接的第二可变电阻器；所述第一可变电阻器的可变端与所述第二可变电阻器的可变端连接在一起，作为偏置电压输出端。

优选的，上述偏置电压产生装置还包括一电源，其电源输出端子与所述第一可变电阻器的一个固定端子连接，其接地端子与所述第二可变电阻器的一个固定端子连接。

优选的，上述偏置电压输出端与测试电路板的偏置电压引脚连接。

优选的，上述第一可变电阻器和所述第二可变电阻器为滑动电阻器。

优选的，上述第一可变电阻器的接入电阻R1与所述第二可变电阻器的接入电阻R2的比值为定值。

优选的，上述第一可变电阻器的可变端和所述第二可变电阻器的可变端为联动设置。

上述技术方案通过将两个可变电阻器的可变端连接在一起作为偏置电压的输出端，通过调整两个可变电阻器，就能够改变偏置电压的大小，提高测试电路板为集成电路芯片提供的偏置电压的分压精度。也可以在不改变偏置电压的情况下，调整偏置电压的输出电阻的值，这样可以使偏置电压的输出电阻与不同的芯片的输入阻抗相匹配，可以根据不同的应用进行调整，适合多种集成电路芯片的测试，提高了测试效果。

附图说明

图1为现有技术中偏置电压产生装置的结构示意图；

图2为本实用新型的实施例偏置电压产生装置的结构示意图；

图3为本实用新型的另一实施例偏置电压产生装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。

本实用新型针对现有测试电路板的偏置电压分压的精度不够的问题，提供一种提高偏置电压分压精度，适合各种不同的芯片测试的偏置电压产生装置。

如图2所示，该偏置电压产生装置主要包括：一个固定端子与电源输出端子连接的第一可变电阻器11和一个固定端子与电源接地端子连接的第二可变电阻器12；所述第一可变电阻器11的可变端与所述第二可变电阻器12的可变端连接在一起，作为偏置电压VB输出端13。

在上述偏置电压产生装置中，还包括一电源10，其电源输出端子与所述第一可变电阻器11的一个固定端子连接，其电源接地端子与所述第二可变电阻器12的一个固定端子连接。而所述偏置电压VB输出端13与测试电路板14的偏置电压引脚连接。

具体的，电路在工作时，在电源10上加上电压VDD，地端电压为0，则根据电阻分压原理，该偏置电压产生装置的偏置电压输出端的电压VB=VDD×R2R1+R2,]]>其中，R1和R2分别为第一变阻器11和第二变阻器12接入电阻的阻值，通过改变第一变阻器11和第二变阻器12的可变端，就可以改变偏置电压VB的大小。