[实用新型]检测设备的激光检测装置有效
申请号: | 200820054197.7 | 申请日: | 2008-08-22 |
公开(公告)号: | CN201262617Y | 公开(公告)日: | 2009-06-24 |
发明(设计)人: | 杜笑鹏;胡国清;李太玉;周绍辉 | 申请(专利权)人: | 湖南正中制药机械有限公司 |
主分类号: | G01N21/90 | 分类号: | G01N21/90;G01N21/958 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 | 代理人: | 邓建辉 |
地址: | 410006*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 设备 激光 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种激光检测装置。
背景技术
目前检测设备绝大多数采用平面光源从侧面照射,平面光源穿透力不强,容易散射,不利于药品的可见异物的检测。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种光源穿透力强,检测精度高,检测速度快、漏检率低的检测设备的被检物体从底部给光的激光检测装置。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供的检测设备的激光检测装置,包括压头和支撑体,在所述的支撑体上设有与被检物体同轴线的通孔,一个激光光源设置于所述的支撑体的底部与所述的通孔及被检物体处于同一轴线上,所述的激光光源的激光通过所述的支撑体中的通孔照射被检物体的底部而穿透整个被检物体。
采用上述技术方案的检测设备的激光检测装置,主要由压头、支撑体和激光光源等零部件组成。被检物体置于压头和支撑体之间,激光光源的激光通过支撑体中的通孔照射被检物体的底部而穿透整个被检物体。光源为激光,光源从被检物体底部照射,区别于平面光源从侧面照射,激光穿透力强,不容易散射,有利于药品的可见异物的检测。
综上所述,本实用新型是一种光源穿透力强,检测精度高,检测速度快、漏检率低的检测设备的被检物体从底部给光的激光检测装置。
附图说明
图1是本实用新型结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步说明。
参见图1,在支撑体3上设有与被检物体2同轴线的通孔4,一个激光光源5设置于支撑体3的底部与通孔4及被检物体2处于同一轴线上,激光光源5的激光通过支撑体3中的通孔4照射被检物体2的底部而穿透整个被检物体2。
参见图1,被检物体2置于压头1和支撑体3之间,激光光源5的激光通过支撑体3中的通孔4照射被检物体2的底部而穿透整个被检物体2。光源为激光,光源从被检物体2底部照射,区别于平面光源从侧面照射,激光穿透力强,不容易散射,有利于药品的可见异物的检测。
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