[实用新型]一种用于测量光固化机光辐射值的辐射计无效

专利信息
申请号: 200820045243.7 申请日: 2008-03-21
公开(公告)号: CN201177535Y 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 江绍基;钟金池;陈少飞;黄绮雯 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 广州粤高专利代理有限公司 代理人: 禹小明
地址: 510275广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 光固化 光辐射 辐射计
【权利要求书】:

1、一种用于测量光固化机光辐射值的辐射计,其特征在于包括显示辐射度值的显示表头(1)、用于探测固化区辐射度的固化区辐射探头(2)、用于探测红外区辐射度的红外区辐射探头(3)、及用于转换探头的转换开关(4)。

2、根据权利要求1所述的用于测量光固化机光辐射值的辐射计,其特征在于:该固化区辐射探头(2)由上往下依次包括第一匀光片(5)、带通滤光片(6)、近红外截止隔热玻璃(7)、第二匀光片(8)及第一光电接收器(9),第一匀光片(5)上表面接收固化区辐射,第一光电接收器(9)连接至显示表头(1)。

3、根据权利要求2所述的用于测量光固化机光辐射值的辐射计,其特征在于:该固化区辐射探头(2)的四周及上表面边缘处还包覆有金属保护层。

4、根据权利要求1所述的用于测量光固化机光辐射值的辐射计,其特征在于:该红外区辐射探头(3)由上往下依次包括第三匀光片(10)、长波通截止光学滤光片(12)、第四匀光片(13)及第二光电接收器(14),第三匀光片(10)上表面接收红外区辐射,第二光电接收器(14)连接至显示表头(1)。

5、根据权利要求4所述的用于测量光固化机光辐射值的辐射计,其特征在于:该红外区辐射探头(3)的四周及上表面边缘处还包覆有金属保护层。

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