[实用新型]用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种利用X射线进行材料分析的测量设备技术领域，尤其是其中用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器。

背景技术

多元素同时测定型X荧光光谱仪(以下简称同定型WDXRFS)的真空测量室周边安装了若干个固定元素道分光器。现有的固定元素道分光器按照分光晶体的种类划分可以分为平晶型和弯晶型，被X光管射线照射后样品中的不同元素发出各自的特征X射线，其波长λ互不相同，这些X射线以θ角投射到分光晶体的表面上，其中只有波长λ符合Bragg公式：nλ＝2dSinθ的元素特征X射线才能以同一θ角被分光晶体反射和聚焦，并被探测仪器检测。根据所检测到的该元素特征X射线的强度即可计算样品中该元素的含量，其它元素的特征X射线因其波长不符合Bragg公式而被吸收。

公知的固定元素道晶体分光器中只能安装一块分光晶体，并且只有一条单通道光路，只能测定某一种固定的元素，因此同定型WDXRFS可以同时测量的元素种类与所安装的分光器数量相同。由于安装空间的限制，在直径一定的真空测量室周边可以安装的分光器数量有限，因此仪器可以同时测定的元素种类受到限制。现有的功率≤200W的小型多道WDXRFS仪器中最多可安装12个公知的分光器，即最多可同时测定12种元素。为了增加可测定元素的种类，不得不加大真空测量室的直径，导致样品至晶体的光程长度增加，由于检测到的X射线强度与光程长度成反比，因此为了保证元素的分析精度，必须加大仪器的功率，即便如此，在功率≥2000W的大型多道WDXRFS仪器中，最多也只能安装约30个公知的分光器，而且此时仪器中已显得十分拥挤，安装、调试和维修均已相当困难。

申请号为CN200610113280.2、公开号为CN101149351的中国发明专利“一种用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器”，公布了一种同时具有两条弯晶衍射光路的分光器；申请号为CN200610113279.X的中国发明专利“用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器”，公布了一种同时具有一条弯晶衍射光路及一条平晶衍射光路的分光器。采用以上二种结构的分光器可同时测定的元素种类成被增加，从而扩大仪器的应用范围；同时能够减少分光器的数量和减小真空测量室的直径，从而使仪器结构大为简化，降低制造成本。

然而，采用弯晶分光，弯晶的成本较高，使得整个分光器的造价昂贵，并且目前市场上还没有一种具有两条直晶衍射光路的分光器。

发明内容

本实用新型目的就是为了克服现有技术的不足而提供一种具有两条直晶衍射光路的分光器。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于同定型X荧光光谱仪的固定元素道分光器，它包括入射管组件、与入射管组件的尾部连接的分光盒组件、与分光盒组件连接的出射管组件，所述的分光盒组件包括盒体以及安装在所述的盒体内部的平晶组件，所述的平晶组件包括平晶、晶体托板及角度调节机构；

所述的入射管组件的通道内安装有一次准直器；

所述的出射管组件的通道内安装有二次准直器；

所述的盒体内并排设置有两组所述的平晶组件，所述的出射管组件为与所述的平晶组件相对应的两组；

两组所述的平晶组件及出射管组件构成两条独立的衍射光路，每条所述的衍射光路中，入射角和出射角相等。

所述的一次准直器和二次准直器均为平板准直器，二者的滤光片的材料为钼。

两组所述的出射管组件的端部还分别设置有X射线探测器，所述的X射线探测器为以下的一种：流气式正比计数器、封闭式正比计数器或者闪烁计数器。

所述的入射管组件的管体的中心轴线通过所述的盒体的中心轴线。

采用本实用新型结构的分光器，第一、在体积增加不多的情况下，使得分光器相比现有的分光器具有两倍的分光能力；第二、采用直晶分光，成本较低，降低整个分光器的成本；第三、每两组平晶晶体，仅采用一组入射管组件，充分利用分光器空间，结构紧凑、成本降低。

附图说明

图1是本实用新型的主视全剖图；

图2是图1中的A-A线的剖视图；

其中，1、入射管组件，11、一次准直器，2、出射管组件，21、二次准直器，3、分光盒组件，31、盒体，32、平晶组件，33、平晶，34、晶体托板，35、角度调节机构，351、底板，352、内调节螺杆，353、外调节螺杆，36、分光器堵盖，37、弹簧片。

具体实施方式

下面结合附图和具体的实施方式对本实用新型作进一步详细的说明：