[实用新型]一种测量辐射光场三维分布的装置无效
申请号: | 200820028166.4 | 申请日: | 2008-01-22 |
公开(公告)号: | CN201149525Y | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
发明(设计)人: | 赵建林;任驹 | 申请(专利权)人: | 西北工业大学 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/04;G02B6/32;G02B5/00 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 | 代理人: | 王鲜凯 |
地址: | 710072陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 辐射 三维 分布 装置 | ||
1.一种测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:装置的组成包括钻孔半球壳(1)、光纤(2)、钻孔圆盘(3)、可调光阑(6)、透镜(5)和CCD相机(4);可调光阑(6)位于装置底部,钻孔半球壳(1)位于可调光阑(6)上,钻孔圆盘(3)位于钻孔半球壳(1)之上,二者之间通过若干光纤连接,透镜(5)位于圆盘(3)之上,CCD相机(4)位于透镜(5)之上;所述的可调光阑(6)的下表面与钻孔半球壳(1)的赤道面重合,且可调光阑(6)下表面的中心与钻孔半球壳(1)的球心重合;所述的钻孔半球壳(1)、光纤(2)、钻孔圆盘(3)、可调光阑(6)、透镜(5)和成像系统沿装置主轴同轴分布;所述的钻孔半球壳(1)和钻孔圆盘(3)上的孔数目相等且均匀分布,光纤数目等于钻孔半球壳上的孔数和圆盘上的孔数。
2.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述的钻孔圆盘(3)上的孔距钻孔圆盘(3)中心的距离正比于钻孔半球壳(1)上的孔的轴线与装置主轴的夹角,且两对应孔的轴线与光纤轴线在同一平面内。
3.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述的透镜(5)到钻孔圆盘(3)的距离大于透镜(5)的两倍焦距,透镜(5)的孔径大于钻孔圆盘(3)的直径。
4.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述的CCD相机(4)靶面距离透镜1倍焦距到2倍焦距之间。
5.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述的钻孔半球壳(1)上的圆孔(7)沿钻孔半球壳(1)表面均匀分布,孔径可取0.5mm~2mm,孔间距可取1mm~2mm,所有圆孔(7)的轴垂直于钻孔半球壳(1)表面并指向球心。
6.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述钻孔半球壳(1)上的圆孔(7)的孔径与钻孔圆盘(3)上圆孔的孔径与光纤(2)的直径相等。
7.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述的所述光纤(2)的两个端面(8)为凸形聚光设计或在光纤两端加装与光纤同轴的自聚焦透镜。
8.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述的钻孔半球壳(1)的内壁及圆孔(7)的内壁涂黑色吸光涂层。
9.根据权利要求1所述的测量辐射光场三维分布的装置,其特征在于:所述可调光阑(6)采用旋片式光阑。
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