[发明专利]测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种测试信号完整性的测试装置。

背景技术

存储桥接舱(Storage Bridge Bay，SBB)工作组是EMC、Dell、Intel和LSI Logic联手组 建的致力于入门级外置存储标准化的非营利协作组织。该组织通过标准化存储控制卡的插槽 接口，使之适用于多厂商多类型的存储器产品，以节省供货商们在硬件架构设计上的重复投 入。SBB组织定义的存储控制卡插槽接口就是SBBMI(SBB Midplane Interconnect)接口。

SBBMI接口是基于SBB架构的存储器用来连接存储控制卡和存储单元(如硬盘)的接口，存 储控制卡通过SBBMI接口来实现和存储单元的数据交换。为了确保存储器产品的品质，需对 SBBMI接口中传输的SAS、SATA及FC等高频数字信号进行信号完整性测试，以验证其是否符合 SBB规范。

然而，SBB规范定义了SBBMI接口中信号的测试点，并将测试点分为ITx，ITy及IRy三类 ，且定义了三类测试点中各种信号(如SAS、PCIe及FC等)的测量规范，但却并未给出如何进 行信号采集的步骤和方法，业界也没有针对SBBMI接口进行测试的装置，这样就造成以下弊 端：如果因没有捕获信号的治具而放弃对SBBMI接口中信号完整性测试，就无法知道信号在 到达SBBMI接口时的情况，从而使存储器产品存在着品质隐患；如果采用将探棒直接接触 SBBMI接口引脚的方式来捕获信号，则会因背板上较长走线引起的信号反射，而使得测试结 果不准确。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种对SBBMI接口中信号的完整性进行测试的测试装置。

一种测试装置，包括一连接一待测设备的连接器及一包括至少一测试单元的测试电路， 所述测试单元包括一第一输入端、一第二输入端、一第一电容、一第二电容、一第一电阻、 一第二电阻、一第一输出端及一第二输出端，所述第一输入端通过所述第一电容及第一电阻 接地，所述第二输入端通过所述第二电容及第二电阻接地，所述第一输出端连接在所述第一 电容与第一电阻之间的节点上，所述第二输出端连接在所述第二电容与第二电阻之间的节点 上，所述第一及第二输入端可通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相连，用于接收 所述待测设备输出的待测信号，所述第一及第二输出端用于输出所述待测信号。

上述测试装置通过所述连接器与所述待测设备对应的连接器相连以接收所述待测信号， 并利用所述测试单元来隔离直流信号和降低传输线上的信号反射，再通过所述第一及第二输 出端将所述待测信号输出给一电子测试仪器，以对所述待测信号进行测量，提高了测试的准 确度和可靠性。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1为本发明测试装置第一测试治具的较佳实施方式的示意图。

图2为本发明测试装置第一测试治具的较佳实施方式的电路图。

图3为本发明测试装置第一测试治具的较佳实施方式借助电子测试仪器测试SBBMI接口中 输出信号完整性的示意图。

具体实施方式

请共同参考图1至图3，本发明测试装置用于测试一存储器的背板200的SBBMI接口中各个 测试点输出信号的完整性，其较佳实施方式包括三个分别用于测试SBBMI接口中ITx、ITy及 IRy类测试点输出信号的测试治具。所述三个测试治具分别与所述ITx、ITy及IRy类测试点的 连接器类型及测试点引脚位置相匹配。其中，所述ITx及ITy类测试点的连接器210及220均为 公头连接器，所述IRy类测试点的连接器230为母头连接器。在本实施方式中，仅以第一测试 治具100为例来进行说明。

所述第一测试治具100用于测试所述SBBMI接口中ITx类测试点输出的待测信号，其包括 一母头连接器110、一测试电路120及六个接头J。所述母头连接器110与所述公头连接器210 相连。所述测试电路120包括六个测试单元123，所述六个测试单元123分别用于捕获所述 ITx类测试点输出的六个待测信号，并通过所述六个接头J将捕获到的六个待测信号传输给一 电子测试仪器(如示波器300)，以通过所述示波器300对所述待测信号的进行测量。在其他 实施方式中，所述测试单元123及接头J的具体数目可根据实际情况而进行相应调整。