[发明专利]晶体振荡器检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置，特别涉及一种晶体振荡器检测装置。

背景技术

晶体振荡器(crystal)在电子产品上被广泛应用，以提供电子产品工作所需的系统频率，故需要对晶体振荡器进行检测，以验证其是否符合要求。

目前，现有的检测方法包括两种，第一种方法是先把晶体振荡器安装在电子产品上，再用示波器直接在电子产品上的相应探测点上量测晶体振荡器的频率；第二种方法是先用万用表量测一品质好的晶体振荡器，再量测待测晶体振荡器，然后将品质好的测量结果与待测的测量结果作比较来判断待测晶体振荡器的好坏。

但是，由于目前电子产品上的晶体振荡器的数目越来越多，应用上述两种检测方法都会花费大量的时间，而且测试精度也不是很高。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测试简单、测试精度高的晶体振荡器检测装置。

一种晶体振荡器检测装置，包括第一及第二三极管、一指示器、第一至第三电容、一第一二极管、第一及第二测试引脚，所述第一测试引脚连接一电源，所述第一三极管的集电极连接到所述第一测试引脚，发射极通过所述指示器接地，所述第一三极管的基极连接到所述第一二极管的阴极，所述第一二极管的阳极依次通过所述第一及第二电容与所述第一测试引脚相连，所述第二三极管的发射极连接在所述第一及第二电容之间的节点，集电极接地，基极连接到所述第二测试引脚，所述第三电容连接在所述第二三极管的基极与发射极之间。

上述晶体振荡器检测装置通过所述第二电容、第三电容及第二三极管组成的振荡电路测试待测晶体振荡器是否符合规格，并通过所述第一三极管控制所述指示器快速地显示检测结果，相较于现有的测试方法具有测试简单快捷，且测试精度高等优点。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1是本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式的示意图。

图2是本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式连接一待测晶体振荡器的电路图。

具体实施方式

请参考图1，本发明晶体振荡器检测装置的较佳实施方式包括一用于容置电路元件的壳体10，所述壳体10上设有一指示器20、一晶体振荡器连接器30及一电源开关40。所述壳体10为方形也可以根据需要设计为其他形状。所述指示器20用于指示检测结果。所述晶体振荡器连接器30用于连接待测的晶体振荡器，以使待测的晶体振荡器接入到测试电路中。所述电源开关40用于接通检测用的电源。

请继续参考图2，所述晶体振荡器检测装置的内部测试电路包括一电源Vcc、一第一三极管Q1、一第二三极管Q2、所述电源开关40、所述指示器20、第一至第三电阻R1-R3、第一至第四电容C1-C4、第一及第二二极管D1及D2、所述晶体振荡器连接器30(图2中以两测试引脚X1及X2表示)。本实施方式中，所述第一及第二三极管Q1及Q2为NPN型三极管，所述指示器20为一发光二极管，也可以根据需要将所述指示器20选用其他具有指示功能的元件，如蜂鸣器等。

所述电源Vcc通过所述电源开关40连接到所述测试引脚X1。所述第一三极管Q1的集电极连接到所述测试引脚X1，发射极连接到所述指示器20的阳极，所述指示器20的阴极通过所述第一电阻R1接地，所述第一三极管Q1的基极连接到所述第一二极管D1的阴极，所述第一二极管D1的阳极依次通过所述第一及第二电容C1及C2与所述测试引脚X1相连，所述第四电容C4连接于所述第一三极管Q1的发射极及基极之间，所述第二二极管D2的阳极连接于所述测试引脚X1，阴极连接于所述第一二极管D1与所述第一电容C1之间的节点，所述第二电阻R2连接在所述测试引脚X1与所述第一及第二电容C1及C2之间的节点之间，所述第二三极管Q2的发射极连接在所述第一及第二电容C1及C2之间的节点，集电极接地，基极连接到测试引脚X2，所述第三电容C3连接在所述第二三极管Q2的基极与发射极之间，所述测试引脚X2还通过所述第三电阻R3接地。

本实施方式中，所述第一电阻R1的电阻值R1＝100Ω，所述第二电阻R2的电阻值R2＝1KΩ，所述第三电阻R3的电阻值R3＝30KΩ，所述第一电容C1的电容值C1＝1000pF，所述第二电容C2的电容值C2＝150pF，所述第三电容C3的电容值C3＝680pF，所述第四电容C4的电容值C4＝0.0047μF。