[发明专利]用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统

权利要求书

1、一种用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统，包括通过微加工技术在微流控芯片上形成的电导检测电极和集成在微流控芯片上的电导检测电路；其特征在于：所述电导检测电极是在SOI硅基电泳芯片的分离管道末端两侧壁集成的覆盖了绝缘层的双侧壁式非接触电导检测电极，一个电极连接交流激励源，另一个电极连接电导检测电路。

2、根据权利要求1所述的用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统，其特征是，所述电导检测电路包括I/V转换电路、乘法运算电路、低通滤波电路及差分放大电路，I/V转换电路的信号输入端与所述双侧壁式非接触电导检测电极的一个连接，其输出端连接乘法运算电路，乘法运算电路再依次连接低通滤波电路及差分放大电路，信号的采集采用A/D转换电路，通过A/D采集卡将信号转换为数字信号并传输给色谱工作站，最后在计算机上显示检测结果，实现对电导信号的实时采集和动态显示。

3、根据权利要求2所述的用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统，其特征是，所述电导电极长度200—800μm，电极厚度10—50μm，电极宽度等于芯片管道深度，为10—15μm。

4、根据权利要求1、2或3所述的用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统，其特征是，所述的激励源采用正弦波交流源。

5、根据权利要求4所述的用于微流控芯片上的侧壁式非接触电导检测系统，其特征是，所述电导检测电路采用高频信号源的峰-峰电压Vp-p在0-10V之间。