[发明专利]基于金汞齐中高频交流电流变化测量汞含量的方法无效
申请号: | 200810233026.5 | 申请日: | 2008-11-11 |
公开(公告)号: | CN101403719A | 公开(公告)日: | 2009-04-08 |
发明(设计)人: | 石孝洪;李军;郑光平;桑雪梅;王敏;杨明波;聂喻梅;赵玮霖 | 申请(专利权)人: | 重庆工学院 |
主分类号: | G01N27/12 | 分类号: | G01N27/12 |
代理公司: | 重庆博凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李晓兵;李玉盛 |
地址: | 400054重庆*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 金汞齐中 高频 交流 电流 变化 测量 含量 方法 | ||
1.基于金汞齐中高频交流电流变化测量汞含量的方法,其特征在于:在 设定的时间和温度条件下,一定流速的含汞大气通过含有金丝的汞探测器, 汞首先在金丝表面形成金汞齐,导致金丝的表面电阻发生变化,将高频交流 电信号加在金丝的两端,采用交流电桥检测高频电流的变化,根据该高频电 流的变化可得到大气中汞含量;所述的高频电流,频率为60MHz~70MHz。
2.根据权利要求1所述的基于金汞齐中高频交流电流变化测量汞含量的 方法,其特征在于:汞探测器由圆柱形金丝和石英管构成,金丝纯度高于 99.99%。
3.根据权利要求1所述的基于金汞齐中高频交流电流变化测量汞含量的 方法,其特征在于:金丝直径为0.2mm。
4.根据权利要求1至3任一所述的基于金汞齐中高频交流电流变化测量 汞含量的方法,其特征在于:测量完毕后,用电流通过金汞齐加热至600℃~800 ℃,汞从金丝中解吸后得到纯金丝,能在下一次测量中使用。
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