[发明专利]用于测试电路板的测试装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试装置和方法，更具体地，涉及一种用于测 试电路板的测试装置和方法。

背景技术

在PDP电路的生产开发中，通常需要对产品进行测试以进行质 量控制，而目前PDP模组电路所采用的测试设备通常都结构复杂， 功能繁锁，而且价格也非常昂贵，这在大规模的生产测试中会使成 本增加，影响产品的竞争力。PDP显示模组控制电路板上面的控制 信号非常多，并且由于很多信号频率很高，需要一个能同时检测多 路信号，而且检测速度快的测试装置。

发明内容

本发明的目的是简化用于测试电路板的测试装置和方法，从而 简化测试装置的结构并降低了制造成本。

为实现上述目的，本发明一方面提出了一种用于测试电路板的 测试装置，包括测试信号产生模块，用于产生测试信号；测试信号 输出模块，与测试信号产生模块连接，用于将测试信号输出至待测 的电路板；待测信号接收模块，用于接收来自电路板的待测信号； 信号处理模块，与待测信号接收模块连接，用于根据预定的标准信 号对待测信号进行处理，并产生处理结果信号；以及控制模块，用 于控制测试信号产生模块产生测试信号，以及接收来自信号处理模 块的处理结果信号，处理结果信号用于判断电路板是否合格：。

其中，所述信号处理模块包括：比较单元，将待测信号与标准 信号进行比较，得到比较结果信号；以及计数单元，用于获取比较 结果信号的脉冲信息。

此外，所述信号处理模块还包括：采样单元，设置在比较单元 后，采用频率可变的时钟对比较结果信号进行采样，以过滤比较结 果信号中脉冲宽度小于时钟脉冲的部分，并将过滤后的波形传输至 计数单元。

本发明另一方面提出了一种用于测试电路板的测试方法，包括 以下步骤：产生测试信号；将测试信号输出至待测的电路板；接收 来自电路板的待测信号；根据预定的标准信号对待测信号进行处 理，并产生处理结果信号；接收处理结果信号，处理结果信号用于 判断电路板是否合格。

其中，所述的根据预定的标准信号对待测信号进行处理包括以 下步骤：将待测信号与标准信号进行比较，得到比较结果信号；获 取比较结果信号的脉冲信息。

此外，所述的根据预定的标准信号对待测信号进行处理还包括 以下步骤：在得到比较结果之后，采用频率可变的时钟对比较结果 信号进行采样，以过滤比较结果信号中脉冲宽度小于时钟脉冲的部 分。

本发明的有益效果是提供了更为简化的电路设计和检测流程， 并且，由于本发明的比较单元运用了诸如异或门的逻辑电路，故使 得该装置可以测试较高频率的信号。此外，本发明主要针对PDP 电路模组中信号数量种类较多而且数据速率最快的控制电路，该电 路的原理和方法同样可以用来测试其它电路。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申 请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并 不构成对本发明的限定。在附图中：

图1是根据本发明示例性实施例的用于测试电路板的测试装置 的框图。

图2是根据本发明示例性实施例的对待测信号和标准信号进行 比较和采样的波形图。

图3是根据本发明示例性实施例的对经采样的比较结果进行计 数的波形图。

具体实施方式

下面将参照附图，详细地说明本发明的实施例。

图1是根据本发明示例性实施例的用于测试电路板的测试装置 的框图。如图1所示，本示例性实施例的测试装置100可以采用以 下电路模块：控制模块101、测试信号产生模块103、测试信号输 出模块105、待测信号接收模块107、信号处理模块109、和通信模 块110等。

根据本发明，测试装置100的测试信号发生模块103产生一个 测试信号，通过测试信号输出模块105输出到待测电路板上，待测 电路板对测试信号进行处理，即模拟正常工作时的状态，并将处理 后的待测信号输入回测试电路中，再通过待测信号接收模块107输 入到信号处理模块109。信号处理模块109通常存储一个标准信号， 待测信号在测试装置100中需要通过信号处理模块109与标准信号 进行比较，并将比较结果进行分析，然后通过通信模块110传输到 计算机上。其中，测试信号可以通过查表产生，即将预设好的多个 波形数据存储在测试装置100的内部存储器中，测试的时候由测试 信号产生模块103读取该波形数据并将其输出。