[发明专利]一种半导体致冷组件的试验装置及其试验方法

权利要求书

1.一种半导体致冷组件的试验装置，其特征在于包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。

2.根据权利要求1所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于：该试验控制器包括电源、脉冲信号源及中间继电器，电源的正极通过一中间继电器的常开触点连接至半导体致冷组件的正极，半导体致冷组件的负极分别连接至电源负极及通过另一中间继电器的常开触点连接至电源正极，脉冲信号源用于控制中间继电器的常开触点的闭合或断开。

3.根据权利要求2所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于：8个中间继电器组成D0～D7脉冲分配矩阵，半导体致冷组件的数量为4，电源的正极分别通过中间继电器D0～D3的常开触点与半导体致冷组件的正极连接，半导体致冷组件的负极连接至电源负极，半导体致冷组件的负极还分别通过中间继电器D4～D7的常开触点与电源的正极连接。

4.根据权利要求1所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于：该水温调控系统包括设于试验容器内的加热器及温度传感器，且该加热器及温度传感器与试验控制器连接。

5.根据权利要求4所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于：该水温调控系统还包括冷却水源及设于冷却水源内的第一水泵，该第一水泵通过管道与试验容器连通，且该第一水泵与试验控制器连接，冷却水源由冷冻柜自身的制冷系统和外接增冷压缩机的蒸发器对冷柜内水进行制冷形成。

6.根据权利要求1所述的半导体致冷组件的试验装置，其特征在于：该试验容器还设有一与试验控制器连接的水位开关，该水位开关检测到试验容器缺水时，则启动设于冷却水源中的第二水泵补水。

7.一种半导体致冷组件的试验方法，其特征在于包括以下步骤：

a.将半导体致冷组件置于装有水的试验容器内，利用水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内；

b.利用试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制；

c.检测半导体致冷组件的电阻、最大温差变化范围是否小于或等于试验前的10％，是则合格，否则不合格。

8.根据权利要求7所述的半导体致冷组件的试验方法，其特征在于：上述半导体致冷组件的温度控制在65℃～80℃，并利用电源、脉冲信号源及多个中间继电器组成的脉冲分配矩阵，对组件正向通电、断电，再反向通电、断电，并循环多次。