[发明专利]一种半自动生化分析仪及其双波长测试方法有效

专利信息
申请号: 200810216085.1 申请日: 2008-09-11
公开(公告)号: CN101672856A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 张少维;王俊;陈雪亮;夏禹 申请(专利权)人: 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N21/27
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 代理人: 郭 燕
地址: 518057广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半自动 生化 分析 及其 波长 测试 方法
【说明书】:

【技术领域】

发明涉及一种半自动生化分析仪。

【背景技术】

生化分析仪通常包括光源、比色通道和光电采集装置,半自动生化分 析仪具有单光束、单比色通道和单光电采集装置。双波长测试方法是在传 统的分光光度法基础上发展起来的,与单波长测试方法相比,双波长测试 方法能够消除或有效抑制光源波动的影响,有效抑制反应中干扰物质对测 试结果的影响,同时对因溶液混浊或比色皿光学特性不均等缺陷可能引起 的测试结果不准具有较好的改善作用。实际应用中,对于多检测通道的光 度计一般是同时测量主次波长的吸光度,对于单检测通道的光度计只能分 时测量主波长和次波长对应的吸光度值,两种应用都是将主次波长的吸光 度差值作为被测物质的吸光度,最后根据LB(朗伯-比尔)原理来计算被 测溶液的浓度。现有的适用于半自动生化分析仪的双波长测试方法为:先 连续采集主波长对应的吸光度值,待主波长的所有数据采集完后再进行次 波长所有数据的采集。这种双波长测试方法的缺陷是:1)两种波长的测试 周期不具备同时性,测试时间点相差较大,即使对于终点法来说也不能完 全扣除光源本身波动对测试结果的影响,在数据处理中可能引起其他误差。 2)因两种波长的测试时间点相差较大,所以现有的双波长测试方法不适用 于通过速率法和固定时间法进行分析的半自动生化分析仪。

【发明内容】

本发明的主要目的就是解决现有技术中的问题,提供一种半自动生化 分析仪及其双波长分析方法。

为实现上述目的,本发明提供一种半自动生化分析仪,包括:光源; 用于通过由光源发出的光束并将其转化为单色光的单色器;用于容纳被测 样本溶液的比色皿,所述比色皿位于所述光源和所述单色器之间的光路中 或所述比色皿位于从单色器透射出的单色光的光路中并透过由光源发出 的光;用于对透过所述比色皿和单色器的单色光进行信号采集的光电采集 装置;单色器驱动装置,所述单色器具有至少两个不同波长的滤光片,所 述单色器驱动装置用于在测试过程中驱动单色器变换位置,使与至少两个 被测波长对应的滤光片依次置于光路中以使光束通过,并转化为单色光; 和控制装置,用于控制光电采集装置在每个采集周期内对至少两个不同波 长的单色光依次进行信号采集,并控制所述单色器驱动装置的动作。

所述控制装置用于在与一被测波长对应的滤光片静止在光路中时,控 制光电采集装置开始对所述波长光进行信号采集,并在信号采集完成后控 制所述单色器驱动装置驱动单色器变换位置,以使与另一被测波长对应的 滤光片静止在光路中。

本发明还同时提供一种双波长测试方法,适用于半自动生化分析仪, 所述半自动生化分析仪包括光源、单色器、比色皿和光电采集装置,所述 单色器具有至少两个不同波长的滤光片,所述光源发出的光透过单色器和 比色皿,所述方法包括以下步骤:

A1、在测试过程中变换所述单色器的位置,使与至少两个被测波长对 应的滤光片依次置于光路中以使光束通过,并转化为单色光;

B1、控制光电采集装置在每个采集周期内对通过比色皿和单色器的至 少两个不同波长的单色光依次进行信号采集;

C1、循环步骤A1、B1,直至完成设定的采集周期数。上述步骤A1、B1 构成一个采集周期,按照操作者所设定的采集周期数,不断循环步骤A1、 B1,直至整个测试过程结束。

所述被测波长为两个。

每个采集周期包括以下步骤:在步骤A1中,当与第一波长对应的滤光 片静止在光路中时,控制光电采集装置开始对所述第一波长光进行信号采 集,采集完成后,控制单色器变换位置,当与第二波长对应的滤光片静止 在光路中时,控制光电采集装置开始对所述第二波长光进行信号采集,采 集完成后,控制单色器变换位置,以使与第一波长对应的滤光片静止在光 路中,开始下一采集周期。

本发明的有益效果是:间隔测试的设计方法,缩小两个波长之间采集 的时间间隔,更接近于反应的实际进行过程,有利于提高测试结果的准确 性和可靠性。并且本发明的双波长测试方式同时满足半自动生化分析仪的 速率法、固定时间法和终点法项目的测试。

【附图说明】

图1为半自动生化分析仪单波长测试原理图;

图2为本发明一种实施例的双波长测试原理图;

图3为本发明一种实施例的双波长测试时序原理图;

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