[发明专利]无刷模制电机无效

专利信息
申请号: 200810214230.2 申请日: 2008-08-21
公开(公告)号: CN101373912A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 胜本纮至;下防浩通;花冈尚彦;泽田知良 申请(专利权)人: 日本电产芝浦株式会社
主分类号: H02K11/00 分类号: H02K11/00;H02K5/08;H02H7/08;H02H7/085;H02H5/04
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 曲瑞
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 无刷模制 电机
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种具备定子的电机壳利用模制树脂使定子一体地模制成型而形成的无刷模制电机。

背景技术

以往,在电机中,为了确保防振性和可靠性等,利用模制树脂对定子整体进行模制。并且,在这种模制电机中,为了检知由于转子的锁止等引起的过电流所导致的定子绕组的异常发热,采用以下结构:将一个温度保险丝设置在从电源到定子绕组的电源线上,如果定子绕组温度上升到温度保险丝的动作温度以上,则温度保险丝熔断,切断流向定子绕组的电流(例如,参照专利文献1)。

此外,近年来在直流无刷电机中,也广泛地对定子整体进行模制并设置温度保险丝来切断流向定子绕组的电流。

专利文献1:JP特开平9-46976号公报([0011]段、图1、图2)。

发明内容

以往的模制电机特别是例如在多相的直流无刷模制电机的情况下,即使接近特定的定子绕组来配置一个温度保险丝,由于模制树脂的导热性,由其它定子绕组的温度上升而产生的热量也会传导到温度保险丝,或者构成用于向各定子绕组接通电流的驱动电路的开关元件的发热会聚集于模制树脂,并向温度保险丝传导该开关元件的热量,从而存在不能稳定地检测一个特定的定子绕组的温度上升的问题。

另一方面,也考虑代替温度保险丝或者除了温度保险丝之外,设置使用热敏电阻等温度检知元件的输入限制系统,伴随由温度检知元件检知的温度进行对各定子绕组的电流限制,但这样的使用仅通过温度使电阻值变化而不进行电气切断的模拟元件的输入限制系统,在美国保险商安全实验室(Underwriters Laboratories Inc.)发布的标准(以下将其称为UL标准)中,由于不是像温度保险丝那样完全切断电源,而不被承认。

本发明就是鉴于上述问题而作出的,其目的在于能够更确实地检测出由于转子的锁止引起的过电流所导致的定子绕组的异常发热。

为了实现上述目的,本发明的无刷模制电机的特征在于,具备设置在从电源到所述各定子绕组的电源线的中途、检知不同的相的所述定子绕组的断开温度以上的温度上升来电气地断开所述电源线的多个温度保险丝(方案1)。

此外,本发明的无刷模制电机的特征在于,所述定子绕组为三相用,至少两个所述温度保险丝配置在各相的所述定子绕组间(方案2)。

此外,本发明的无刷模制电机的特征在于,所述定子绕组为三相用,两个所述温度保险丝接近不同的两相的所述定子绕组而配置(方案3)。

此外,本发明的无刷模制电机的特征在于,所述各温度保险丝配置在所述定子铁心的槽内,对所述各温度保险丝的弯曲的引导部分实施热收缩管的包裹等绝缘处理(方案4)。

此外,本发明的无刷模制电机的特征在于,所述各温度保险丝电气地串联连接(方案5)。

此外,本发明的无刷模制电机的特征在于,所述模制树脂以低于所述温度保险丝的断开温度的温度模制(方案6)。

此外,本发明的无刷模制电机的特征在于,还具备伴随由检知电机内部的温度的热敏电阻等温度检知元件所检知的温度,而进行对所述各定子绕组的电流限制的温度检知·电流限制部,进行电流限制时的所述温度检知元件的动作范围被设定得低于所述温度保险丝的断开温度(方案7)。

根据方案1的发明,由于设置了电气地切断电源线的多个温度保险丝,所以在出现由于转子的锁止、过负荷运转导致的定子绕组的温度上升时,利用多个温度保险丝检知不同的相的定子绕组的切断温度以上的温度上升,所以不会像以往那样由于模制树脂的导热性而检知到特定的定子绕组以外的发热或驱动电路的开关元件的发热,从而温度保险丝发生误动作,能够更确实地检知由于转子的锁止、过负荷运转等引起的过电流所导致的定子绕组的异常发热来断开电源线。

而在三相无刷模制电机的情况下,作为将温度保险丝配置在相邻的定子绕组间时通电时的过热形式,有

(a)从温度保险丝的单侧的定子绕组过热的形式、

(b)从温度保险丝的相反侧的定子绕组过热的形式、

(c)从温度保险丝的两侧的定子绕组过热的形式

这三种形式,如方案2的发明所述,如果将至少两个温度保险丝配设在各相的定子绕组间,则任意一个温度保险丝能够检知来自其两侧的定子绕组的发热。

因此,根据方案2的发明,在三相无刷模制电机中,由于各温度保险丝中的任意一个必定检知来自其两侧的定子绕组的发热,所以能够更确实地检知由于转子的锁止、过负荷运转等引起的过电流所导致的定子绕组的异常发热。

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