[发明专利]光学系统的评价装置无效

专利信息
申请号: 200810210617.0 申请日: 2005-07-14
公开(公告)号: CN101350205A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 光山亮;江上晴久;川村贵史;前波克俊 申请(专利权)人: 利达电子株式会社
主分类号: G11B7/22 分类号: G11B7/22;G11B7/09;G01B11/26;G01M11/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 金春实
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学系统 评价 装置
【说明书】:

本申请是申请号为200510081969.7、申请日为2005年7月14日、发明名称为“光学系统的评价装置”的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及CD或DVD用的光拾取器之类光学系统的评价装置或调整装置,特别涉及到此种装置的耐振结构以及光轴的斜度的评价或调整。

背景技术

迄今,CD或DVD用光拾取器的光学系统的光轴评价装置或调整装置,是通过将光拾取器的光束产生的光束点图像加以放大显示,来调整光拾取器物镜光轴的斜度。这类已有的光轴评价/调整装置,为了提高光束点图像的放大率,把它设计成将外部环境给予评价/调整装置的振动抑制到一定限度之下来使用。因此,为了使用这类光轴评价/调整装置,需要采取将评价/调整装置设置于防振台之上的充分的防振措施。

但是防振台一般价格高昂,且随着防振性能的提高,价格也变高。这样就使得包括光轴评价/调整装置在内的整套设备价格上扬。此外,这种已有的光轴评价/调整装置的装置本身对外部的振动敏感,同时在调整光拾取器物镜的斜度时,当用于进行物镜斜度的调整作业,会受到产生的振动的很大影响。对这种振动的敏感会发生被迫在结束振动之前暂时中断调整作业的问题。光轴评价/调整装置中的其他部分,例如也会随着用于位置跟踪(光束点图像的跟踪)的X/Y台的移动而产生振动。这种振动使得调整作业所需的时间加长。

发明内容

本发明的目的在于提供降低振动灵敏度的光学系统的评价装置或调整装置。

本发明的另一目的在于提供降低振动灵敏度的光学系统光轴的评价装置或调整装置。

根据本发明的一种形式,本发明提供的光学系统的光轴评价装置具有:底座;由该底座支承的基盘;安装于此基盘的上侧与下侧两者中一方之上的X/Y台而此X/Y台是用于在其上安装作为评价对象的光学系统装置的;以及安装于上述基盘的上侧与下侧两者中另一方上的光探测器。此外,光学系统评价装置还能具有图像处理装置,这种图像处理装置通过处理来自对上述评价对象的光学系统的投影像进行探测的上述光探测器的图像,可抑制上述图像中投影像的摆动。

根据本发明的另一种形式,本发明提供的光学系统的光轴评价装置包括:具有显示区的显示器;将从光学系统投影到基准面上的像时刻显示于上述显示区上基准位置处的投影像捕获装置。此投影像捕获装置具有:对从光学系统投影到基准面上的图像进行摄像的光探测器;将上述摄影图像显示于上述显示区上基准位置处的捕获控制器。上述光探测器可以包括:构成接收上述光学系统于其光轴上投影的像的上述基准面的伪盘;具有将上述基准面上的投影像以第一倍率摄像而发生第一摄像图像的第一探测区的第一探测器;具有将上述投影像以比第一倍率高的第二倍率摄像而发生第二摄像图像的第二探测区的第二探测器,而此第二探测器是使上述第二探测区对应于上述第一探测区内特定区。上述捕获控制器可以包括:接收上述第一摄像图像,能使上述光学系统相对于上述光探测器调整定位的定位装置,而此定位装置能进行工作以使上述位于上述第一探测区的上述特定区内;接收上述第二摄像图像,通过将上述投影像的图像显示于上述显示器的上述显示区的基准位置处,抑制投影像在上述显示区中摆动的投影像摆动抑制装置。上述投影图像摆动抑制装置可以包括:探测上述第二摄像图像中上述投影像位置的投影像位置探测装置;产生上述第二摄像图像中的包含上述投影像位置的图像部分,供给上述显示器的图像提取装置。上述投影图像位置探测装置可以包括:具有存储上述第二摄像图像数据的取矩阵配置的多个地址的存储器;根据上述多个地址以及存储于这些地址中的图像数据,计算对应于上述投影像的重心的重心地址的重心计算装置,而据此重心计算装置,上述投影像的重心即表示上述投影像位置。

根据本发明,可不需以往使用的那种防振台,而只需用更简洁的防振台。这样也能降低光学系统评价装置或调整装置的整体费用。此外,利用本发明,与以往相比,即使在大的振动下也能调整光轴的斜度。因此,可不需以往那种X/Y台的高的位置跟踪能力,还能简化位置追踪与低成本化。

附图说明

图1是示明本发明一实施形式的光学系统评价装置的框图。

图2是采用了图1的光学系统评价装置一实施形式的CD或DVD用光拾取器的光轴调整装置的示意性正视图,并以框图示明其他的电气处理部。

图3是以部分剖面所示图2的光轴调整装置中机构部的侧视图。

图4是图2与图3所示光学探测单元与被调整的光拾取器的光学系统的示意图。

图5示明低倍率CCD摄像机与高倍率CCD摄像机的探测区的关系。

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