[发明专利]耐高压的驱动电路无效
| 申请号: | 200810210581.6 | 申请日: | 2008-09-02 |
| 公开(公告)号: | CN101547003A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
| 发明(设计)人: | 黄建程;林松杰 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H03K19/20 | 分类号: | H03K19/20;H03K19/0948;H03K19/003 |
| 代理公司: | 北京市德恒律师事务所 | 代理人: | 梁 永;马佑平 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高压 驱动 电路 | ||
1、一种耐高压反相器电路,包括:
PMOS晶体管,其源极和漏极分别与第一高压电源(VDDQ)和输出端相连,其栅极由第一信号控制,该第一信号具有在所述VDDQ和低压电源(VSS)之间的电压摆幅;和
NMOS晶体管,其源极和漏极分别与所述VSS和所述输出端相连,其栅极由第二信号控制,该第二信号具有在第二高压电源(VDD)和所述VSS之间的电压摆幅,
其中,所述VDD低于所述VDDQ,所述第一信号在所述VDDQ和所述VSS之间的电压摆动与所述第二信号在所述VDD和所述VSS之间的电压摆动始终在相同的方向。
2、根据权利要求1所述的耐高压反相器电路,其中,所述第一信号和所述第二信号的电压摆动同时发生。
3、根据权利要求1所述的耐高压反相器电路,还包括降压转换器,其提供所述第一信号和所述第二信号。
4、根据权利要求3所述的耐高压反相器电路,其中,所述降压转换器包括至少两个共源共栅(cascoded)的PMOS晶体管。
5、根据权利要求1所述的耐高压反相器电路,还包括与开关器件串行连接的电熔丝单元,由所述耐高压反相器电路的输出控制所述开关器件。
6、根据权利要求5所述的耐高压反相器电路,其中,所述开关器件为一个NMOS晶体管,所述NMOS晶体管的栅极耦合至所述耐高压反相器电路的输出端。
7、一种熔丝控制电路,包括:
PMOS晶体管,其源极和漏极分别与第一高压电源VDDQ和输出端相连,其栅极由第一信号控制,该第一信号具有在所述VDDQ和低压电源(VSS)之间的电压摆幅;和
NMOS晶体管,其源极和漏极分别与所述VSS和所述输出端相连,其栅极由第二信号控制,该第二信号具有在第二高压电源(VDD)和所述VSS之间的电压摆幅;和
电熔丝单元,其与开关器件串行连接,所述开关器件的控制端耦合至所述输出端,
其中,所述VDD低于所述VDDQ,所述第一信号在所述VDDQ和所述VSS之间的电压摆动与所述第二信号在所述VDD和所述VSS之间的电压摆动始终在相同的方向。
8、根据权利要求7所述的熔丝控制电路,其中,所述第一信号和所述第二信号的电压摆动同时发生。
9、根据权利要求7所述的熔丝控制电路,还包括降压转换器,其提供所述第一信号和所述第二信号。
10、根据权利要求9所述的熔丝控制电路,其中,所述降压转换器包括至少两个共源共栅的PMOS晶体管。
11、根据权利要求7所述的熔丝控制电路,其中,所述开关器件为一个NMOS晶体管,所述NMOS晶体管的栅极耦合至所述输出端。
12、一种耐高压反相器电路,包括
PMOS晶体管,其源极和漏极分别与第一高压电源VDDQ和输出端相连,其栅极由第一信号控制,该第一信号具有在所述VDDQ和低压电源(VSS)之间的电压摆幅;和
NMOS晶体管,其源极和漏极分别与VSS和所述输出端相连,其栅极由第二信号控制,该第二信号具有在第二高压电源(VDD)和所述VSS之间的电压摆幅;和
降压转换器,其提供所述第一信号和所述第二信号;
其中,所述VDD低于所述VDDQ,所述第一信号在所述VDDQ和所述VSS之间的电压摆动与所述第二信号在所述VDD和所述VSS之间的电压摆动始终在相同的方向。
13、根据权利要求12所述的耐高压反相器电路,其中,所述第一信号和所述第二信号的电压摆动同时发生。
14、根据权利要求12所述的耐高压反相器电路,其中,所述降压转换器包括至少两个共源共栅的PMOS晶体管。
15、根据权利要求12所述的耐高压反相器电路,还包括与开关器件串行连接的电熔丝单元,由所述耐高压反相器电路的输出控制所述开关器件。
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